[发明专利]半导体元件与记忆体及其操作方法有效

专利信息
申请号: 200710007534.7 申请日: 2007-02-01
公开(公告)号: CN101236970A 公开(公告)日: 2008-08-06
发明(设计)人: 吴昭谊 申请(专利权)人: 旺宏电子股份有限公司
主分类号: H01L27/115 分类号: H01L27/115;G11C16/02;G11C16/10
代理公司: 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 代理人: 寿宁;张华辉
地址: 中国台湾新竹县*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明有关于一种半导体元件与记忆体及其操作方法。该记忆体,其适用于嵌入式记忆体中。此记忆体包括,基底、栅极、电荷陷入闸介电层、源极以及漏极。其中,栅极配置在基底上方。电荷陷入闸介电层配置于栅极与基底之间。源极与漏极分别配置于栅极两侧的基底中。本发明能够于同一系统上同时制作金氧半导体电晶体与记忆体,且在制程产生制作上较为简易,而可提高制程良率。本发明还公开了该记忆体的操作方法和包括该记忆体的半导体元件。
搜索关键词: 半导体 元件 记忆体 及其 操作方法
【主权项】:
1. 一种半导体元件,其特征在于包括:一基底,该基底具有一逻辑电路区与一记忆体区;一金氧半导体电晶体,配置在该逻辑电路区中,该金氧半导体电晶体包括一基底、位于该基底中的一漏极与一源极、位于该漏极与该源极之间的该基底上方的一栅极,以及位于该栅极与该基底之间的一闸介电层;以及一记忆体,配置在该记忆体区中,其中该记忆体具有与该金氧半导体电晶体相同材料的堆叠结构,该记忆体包括一基底、位于该基底中的一漏极与一源极、位于该漏极与该源极之间的该基底上方的一栅极,以及位于该栅极与该基底之间的一电荷陷入闸介电层。
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