[发明专利]像素结构的制作方法有效

专利信息
申请号: 200710007902.8 申请日: 2007-01-30
公开(公告)号: CN101009252A 公开(公告)日: 2007-08-01
发明(设计)人: 石志鸿;杨智钧;黄明远 申请(专利权)人: 友达光电股份有限公司
主分类号: H01L21/84 分类号: H01L21/84;H01L21/768
代理公司: 隆天国际知识产权代理有限公司 代理人: 陈晨
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明提供一种像素结构的制作方法,其包括下列步骤。首先,提供一形成有一有源元件的基板并形成一覆盖有源元件的介电层。在有源元件上方形成一具有一开口且不同厚度的第一光致抗蚀剂层。在进行一蚀刻工艺以经由开口在介电层中形成一接触窗后,减少第一光致抗蚀剂层的厚度,移除部分第一光致抗蚀剂层并暴露出部分介电层。接着,形成一覆盖部分介电层及剩余第一光致抗蚀剂层的透明导电层,且其经由接触窗连接有源元件。在移除剩余的第一光致抗蚀剂层上的透明导电层后,部分介电层上的透明导电层即构成一像素电极。最后,移除剩余的第一光致抗蚀剂层。由于该方法使用的掩模数少,可以降低制造成本。
搜索关键词: 像素 结构 制作方法
【主权项】:
1.一种像素结构的制作方法,包括:提供一基板,且该基板上已形成有一有源元件;在该基板上形成一介电层,使其覆盖该有源元件;在该介电层上形成一第一光致抗蚀剂层,其中该第一光致抗蚀剂层具有不同的厚度变化,且该第一光致抗蚀剂层具有位于该有源元件上方的一开口;以该第一光致抗蚀剂层为掩模进行一蚀刻工艺,以经由该开口在该介电层中形成一接触窗;减少该第一光致抗蚀剂层的厚度,以移除一部分的该第一光致抗蚀剂层,而暴露出一部分的该介电层;形成一透明导电层,以覆盖该部分的介电层以及剩余的该第一光致抗蚀剂层,且该透明导电层经由该接触窗连接至该有源元件;移除剩余的该第一光致抗蚀剂层上的该透明导电层,使得位于该部分的介电层上的该透明导电层构成一像素电极;以及移除剩余的该第一光致抗蚀剂层。
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