[发明专利]自动分析装置和探头清洗方法有效
| 申请号： | 200710007911.7 | 申请日： | 2007-01-30 |
| 公开（公告）号： | CN101013139A | 公开（公告）日： | 2007-08-08 |
| 发明（设计）人： | 大沼武彦;高山博子 | 申请（专利权）人： | 株式会社东芝;东芝医疗系统株式会社 |
| 主分类号： | G01N35/00 | 分类号： | G01N35/00;G01N31/00 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 吴丽丽 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 通过探头(8a、8b)对检测体(4)依次采样，根据基于探头(8a、8b)的检测体(4)的采样次数或检测体(4)的采样量中至少一方，变更清洗探头(8a、8b)时的清洗次数或清洗时间中的至少一方。 | ||
| 搜索关键词： | 自动 分析 装置 探头 清洗 方法 | ||
【主权项】：
1.一种自动分析装置，具备：对检测体采样的探头；对由探头采样出的所述检测体进行分析的分析单元；清洗所述探头的清洗机构；以及根据由所述探头对所述检测体的采样次数或所述检测体的采样量中至少一方，变更由清洗机构对所述探头的清洗次数或清洗时间中的至少一方的探头清洗变更部。
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