[发明专利]半导体集成电路装置及电子装置无效

专利信息
申请号: 200710007969.1 申请日: 2007-02-01
公开(公告)号: CN101013889A 公开(公告)日: 2007-08-08
发明(设计)人: 伊藤稔 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: H03K19/00 分类号: H03K19/00;H03K19/0948;H01L21/00
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 邵亚丽;李晓舒
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 具有截止时的漏电流和导通电阻在实用上都充分小的功率控制用MOS晶体管的半导体集成电路装置及电子装置,该功率控制功能由截止时的漏电流和导通电阻、与在实用上充分的小的功率控制用MOS晶体管一同构成。半导体集成电路装置(300)包括:CMOS逻辑电路(110)、被连接到CMOS逻辑电路(110)的低电位端电源管脚部的第二虚拟电源线VSS1、以及被连接到第二虚拟电源线VSS1和低电位端电源线VSS之间的功率控制用NchMOS晶体管(NT2),功率控制用NchMOS晶体管(NT2)的衬底和栅极进行电连接。栅极和衬底例如通过利用了耗尽型的NchMOS晶体管构成的源极跟随器的限流器(330)而连接就可以。
搜索关键词: 半导体 集成电路 装置 电子
【主权项】:
1、一种半导体集成电路装置,包括:逻辑电路,由多个NchMIS晶体管和多个PchMIS晶体管构成;第一虚拟电源线,其连接到所述逻辑电路的高电位端电源管脚部;第二虚拟电源线,其连接到所述逻辑电路的低电位端电源管脚部;以及第一NchMIS晶体管,具有小于所述逻辑电路的MIS晶体管的阈值电压的绝对值的阈值电压,或者为耗尽型,在所述第一NchMIS晶体管的漏极上连接所述第二虚拟电源线,同时其源极上连接低电位端电源线,对栅极施加电位比所述低电位端电源线低的电压作为低电平,施加电位比所述低电位端电源线高的电压作为高电平。
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