[发明专利]一种继电器综合参数测试仪的精度闭壳校准的方法

摘要

本发明公开了一种继电器综合参数测试仪的精度闭壳校准的方法，是采用计算机软件对校准过程中进行控制，校准时，通过各个校准点获得的实际值(即设定值)、测量值，由主芯片计算出每二个校准点之间的线性关系值，并将各校准点的线性关系值存储在存储器中供实测时使用，实测时，只要判定该测量值是处在那两个校准点的测量值之间，就可以利用该两个校准点之间的线性变化关系值而得到实际值与测量值之间的关系，并进而得出实际值。该校准方法可在不拆开机箱的情况下对继电器测试仪的精度进行校准，具有免拆机箱，节约工时，使仪器精度的校准更简单，方便，只需按步骤操作即可的特点，同时还可减少因人为因素造成的误判。

主权项

1.一种继电器综合参数测试仪的精度闭壳校准的方法，其特征在于：包括如下步骤：a1.预先选定被测参数的若干个校准点数值，并将所选定的校准点数值存储在继电器综合参数测试仪内的存储器中；所述校准点至少包括0数值点和最大量程值点；a2.在继电器综合参数测试仪的参数测试接口中接入标准的所述参数的测试仪表或仪器；a3.进入校准；a4.在继电器综合参数测试仪的校准显示界面中，显示由继电器综合参数测试仪内主芯片根据预先选定的第n个校准点所设定的作为实际值的所述参数的数值；所述n的初始值置为0；a5.调节继电器综合参数测试仪的测试接口的数值，使所述测试接口的数值与上述第n个校准点所设定的作为实际值的所述参数的数值相一致；a6.继电器综合参数测试仪的主芯片采集测试电路中在第n个校准点对所述参数测试过程所产生的测量值；a7.继电器综合参数测试仪的主芯片将第n个校准点所设定的作为实际值的所述参数的数值记为Yn，将测试仪在第n个校准点所产生的测量值记为Xn，由Xn、Yn通过下列公式可获得第一系数kn和第二系数bn：当n＝0时，k0＝Y0/X0 b0＝0当n≠0时，kn＝(Yn-Yn-1)/(Xn-Xn-1)bn＝Yn-kn Xn继电器综合参数测试仪的主芯片将计算后获得kn、bn和Xn的值存入EEPROM存储器中；a8.进入下一个校准点n＝n+1；所述校准点的前后顺序由所述参数的数值由小到大顺次排列；a9.继电器综合参数测试仪的主芯片对校准点n值进行比较判断，当n值不大于最大量程值点的排列位的值时，重复步骤a4；当n值大于最大量程值点的排列位的值时，退出校准。