[发明专利]一种测量全氟磺酰树脂磺酰单体含量的方法无效

专利信息
申请号: 200710015730.9 申请日: 2007-05-10
公开(公告)号: CN101051024A 公开(公告)日: 2007-10-10
发明(设计)人: 秦胜;高自宏;张春玉;崔晓梅;张永明;张恒 申请(专利权)人: 山东东岳神舟新材料有限公司
主分类号: G01N21/35 分类号: G01N21/35;G01J3/42;G06F19/00
代理公司: 济南金迪知识产权代理有限公司 代理人: 王绪银
地址: 2564*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 一种利用衰减全反射傅立叶变换红外光谱(ATR-FTIR)快速测定全氟磺酰树脂磺酰单体含量的方法,包括选取不同磺酰单体含量的全氟磺酰树脂样品,测定每个样品对应的ATR-FTIR光谱,然后选择红外光谱中由磺酰单体引起的和由碳氟键引起的吸收谱带作为特征吸收谱带,将所述特征吸收谱带的吸光强度或谱带积分面积的比值与磺酰单体含量相关联建立工作曲线或回归公式。然后测试未知样品的红外光谱,通过工作曲线或回归公式来预测其磺酰单体含量。该法适用于全氟磺酰树脂磺酰单体含量的测定,使用样品量小,分析迅速、准确,操作简便。
搜索关键词: 一种 测量 全氟磺酰 树脂 单体 含量 方法
【主权项】:
1.一种利用衰减全反射傅立叶变换红外光谱测定全氟磺酰树脂磺酰单体含量的方法,包括下列步骤:1)建立工作曲线或回归公式:选取已用标准的化学分析方法、已准确测定其磺酰单体含量、有较宽共聚组成范围的多组全氟磺酰树脂样品,测定每个样品对应的ATR-FTIR光谱,然后选择红外光谱中的碳氟特征吸收谱带和磺酰单体特征吸收谱带,将所述特征吸收谱带的吸光强度或谱带积分面积的比值与样品标准方法测定的磺酰单体含量相关联建立工作曲线或回归公式;2)测定未知样品的磺酰单体含量:在与建立工作曲线相同的测试条件,对未知样品进行ATR-FTIR测试,将得到的红外光谱特征吸收谱带的吸光强度或谱带面积的比值带入工作曲线或回归公式得到磺酰单体含量。
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