[发明专利]静态双折射偏振干涉成像光谱仪无效

专利信息
申请号: 200710017517.1 申请日: 2007-03-16
公开(公告)号: CN101046409A 公开(公告)日: 2007-10-03
发明(设计)人: 张淳民;赵葆常;李英才 申请(专利权)人: 西安交通大学
主分类号: G01J3/45 分类号: G01J3/45;G02B27/28
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 代理人: 张震国
地址: 710049*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 静态双折射偏振干涉成像光谱仪,由沿入射光向同轴依次设置的前置望远系统、偏振干涉仪、成像镜组、面阵探测器以及与面阵探测器输出端联接的计算机信号处理系统组成。偏振干涉仪由沿系统光轴同轴依次设置的起偏器、萨瓦偏光镜和检偏器组成。萨瓦偏光镜包括两块光轴相互垂直且各与系统光轴成45°角的等厚天然单轴负晶萨瓦板,起偏器和检偏器均由两块有空气隙的劈形天然单轴负晶体格兰泰勒棱镜组成,探测器的信号输出端外接至计算机信号处理系统。本发明采用萨瓦偏光镜作为横向剪切分束器,具有无限远目标,直线光路,结构简单,高稳定度,高信噪比,高分辨率,可同时获取物体形影图像、光谱、偏振信息和对远距离目标及微弱信号探测能力强等诸多优点。
搜索关键词: 静态 双折射 偏振 干涉 成像 光谱仪
【主权项】:
1、一种静态双折射偏振干涉成像光谱仪,其特征在于它由沿入射光向同轴依次设置的前置望远系统(1)、偏振干涉仪(2)、成像镜组(3)、面阵探测器(4)以及与面阵探测器(4)输出端联接的计算机信号处理系统(5)组成。其中:所说的偏振干涉仪(2)由沿系统光轴同轴依次设置的格兰泰勒偏光棱镜起偏器(21)、萨瓦偏光镜(22、23)和格兰泰勒偏光棱镜检偏器(24)组成。由目标发出的辐射光经前置望远系统(1)进行收集、准直后进入起偏器(21),通过萨瓦偏光镜将由起偏器(21)射出的一束线偏振光横向剪切为两束出射方向平行于入射光束、且振动方向相互垂直和有一定间距的二束线偏振光,二线偏振光经检偏器(24)后变为沿检偏器(24)偏振化方向振动的线偏振光,二光经成像镜组(3)汇聚于面阵探测器(4)上发生干涉,进而由面阵探测器(4)同时获得目标的形影图像、干涉图和偏振信息,再经计算机信号处理系统(5)后获得目标的光谱信息,通过多光谱合成还可重构目标彩色图像。
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