[发明专利]锥束CT系统中平板探测器图像的抗干扰校正方法

摘要

本发明公开了一种锥束CT系统中平板探测器图像的抗干扰校正方法，设置采集参数，对平板探测器进行部分屏蔽，采集暗场图像、空白曝光图像和实物投影图像；计算平均暗场图像、增益校正图像和坏像素模板图像；对实物投影图像进行暗场校正、暗场波动校正、增益校正、坏像素修正以及增益条纹校正；对实物投影图像进行滤波降噪处理，由实物投影图像重建出实物切片图像。将空白曝光图像重建出空白切片图像，计算切片校正图像；对实物切片图像进行切片校正；对实物切片图像进行滤波降噪处理。本发明的校正结果明显优于现有校正算法的结果。可以有效去除现有校正方法无法消除的线状和环状伪影，并使图像信噪比保持或略高于原有水平。

主权项

1.锥束CT系统中平板探测器图像的抗干扰校正方法，其特征在于包括下述步骤：(a)设置采集参数，对平板探测器进行部分屏蔽，在不放置被检测实物的情况下，采集一组暗场图像和一组空白曝光图像，放置被检测实物，采集实物投影图像；(b)由暗场图像和空白曝光图像，按照常规校正方法计算校正过程所需的平均暗场图像、增益校正图像和坏像素模板图像；(c)利用平均暗场图像，对实物投影图像进行暗场校正；(d)由实物投影图像计算暗场波动数据，对实物投影图像进行暗场波动校正；(e)利用增益校正图像，对实物投影图像进行增益校正；(f)利用坏像素模板图像，对实物投影图像进行坏像素修正；(g)由实物投影图像计算增益条纹校正参数，对实物投影图像进行增益条纹校正；(h)对实物投影图像进行滤波降噪处理，滤波方法根据需要在非局部均值滤波(NoneLocal Mean)、自适应中值滤波和模糊理论滤波三种方式中选择；(i)由实物投影图像重建出实物切片图像。将空白曝光图像按上述(3)～(8)步的方法处理，并重建出空白切片图像；(j)由空白切片图像计算切片校正图像；(k)利用切片校正图像，对实物切片图像进行切片校正；(l)对实物切片图像进行滤波降噪处理。