[发明专利]微型传感器点焊工艺方法有效
申请号: | 200710019810.1 | 申请日: | 2007-01-29 |
公开(公告)号: | CN101013675A | 公开(公告)日: | 2007-08-08 |
发明(设计)人: | 汪洋 | 申请(专利权)人: | 南京时恒电子科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/60 | 分类号: | H01L21/60;B23K1/00;B23K35/26 |
代理公司: | 南京苏科专利代理有限责任公司 | 代理人: | 何朝旭 |
地址: | 211101江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及一种微型传感器点焊工艺方法,属于电子器件焊接工艺技术领域。该方法包括按序排线、摊布芯片、助剂浸润、线端点焊等工艺步骤,不仅妥善解决了细铜丝柔软以及微型芯片难以镊持给焊接带来的难题,而且由于合理借助了定位条,使焊接可以批量进行,并为各后道的批量清洗、批量包封创造了良好的条件。从而大大提高了工效。与现有技术相比,具有显著的实质性特点和突出的进步。 | ||
搜索关键词: | 微型 传感器 点焊 工艺 方法 | ||
【主权项】:
1.一种微型传感器点焊工艺方法,包括以下步骤:1)、按序排线——将预定长度的细铜丝两根一组按序基本垂直间隔排布固定在定位条上,待焊端露出;2)、摊布芯片——将待焊芯片摊布在平滑的耐温垫板上;3)、助剂浸润——将溶化的助焊剂滴洒在垫板上,浸润芯片;4)、线端点焊——扶持定位条,并用蘸有焊锡的烙铁头将一芯片推向露出定位条的细铜丝端头,使其焊合。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南京时恒电子科技有限公司,未经南京时恒电子科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200710019810.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造