[发明专利]芯片毛细管电泳中低速电渗流的测量方法

摘要

一种芯片毛细管电泳中低速电渗流的测量方法，首先在一个作为参比的快速电渗流微芯片A上以样品区带法完成探针物质的有效淌度的测定，方法简述如下，在背景电解质中加入一个快速迁移的且可被测定的物质(探针)，当不同于背景电解质溶液浓度的类背景电解质溶液作为样品进样后，得到电泳图，利用图中的出峰时间可以计算出探针物质在参比芯片上的有效淌度(μ_eff)，然后，利用相同的不含探针的背景电解质溶液作为缓冲液，以探针物质作为样品在未知电渗流的微芯片B上完成常规的毛细管电泳检测，可以计算得到探针在微芯片B上的表观淌度(μ_npp)，根据以下公式可以计算出求知的电渗流淌度(μ_EOF)，μ_EOF＝μ_npp－μ_eff。

主权项

1.一种芯片毛细管电泳中低速电渗流的测量方法，其特征是：首先在一个作为参比的快速电渗流微芯片A上测得探针物质的有效淌度μeff，然后测得探针物质在待测电渗流的微芯片B上的表观淌度μapp，根据以下公式计算出未知的电渗流淌度μEOF，μEOF＝μapp-μeff 。