[发明专利]凝胶芯片检测方法与检测装置无效

专利信息
申请号: 200710024651.4 申请日: 2007-06-26
公开(公告)号: CN101074950A 公开(公告)日: 2007-11-21
发明(设计)人: 陆祖宏;潘志强;李燕强;肖鹏峰 申请(专利权)人: 东南大学
主分类号: G01N33/48 分类号: G01N33/48;C12Q1/00
代理公司: 南京经纬专利商标代理有限公司 代理人: 陆志斌
地址: 21009*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 一种凝胶芯片检测方法,检测步骤为:将与探针杂交后的凝胶芯片用去离子水清洗;去离子水清洗后的凝胶芯片插入芯片卡槽内,再将卡槽放入芯片清洗容器中进行超声处理,清洗1~10片凝胶芯片时,超声波发生器的功率设置为20W,此后每10片为一个数量级,功率相应增加10瓦,超声时间为5~30秒;将凝胶芯片取出用去离子水清洗后,氮气吹干进行芯片扫描。一种凝胶芯片检测装置,该装置由超声波发生器、功率调节器和芯片清洗容器组成,其中芯片清洗容器设于超声波发生器内,且芯片清洗容器内设有芯片卡槽。该处理方法具有很高的稳定性与重复性。
搜索关键词: 凝胶 芯片 检测 方法 装置
【主权项】:
1.一种凝胶芯片检测方法,其特征在于检测步骤为:a.将带有丙烯酰胺修饰的不同的PCR产物同丙烯酰胺、过硫酸铵以及水相混合,用点样仪将讲它们点在玻片上形成微阵列,待凝胶微阵列凝固后,将该芯片用NaOH变性处理,去离子水清洗完毕后,与检测探针杂交;b.然后将凝胶芯片用去离子水清洗;c.去离子水清洗后的凝胶芯片插入芯片卡槽内,再将卡槽放入芯片清洗容器中进行超声处理,清洗1~10片凝胶芯片时,超声波发生器的功率设置为20W,此后每10片为一个数量级,功率相应增加10瓦,超声时间为5~30秒;d.将凝胶芯片取出用去离子水清洗后,氮气吹干进行芯片扫描。
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