[发明专利]微电子器件恒定加速度的检测方法无效
| 申请号： | 200710025509.1 | 申请日： | 2007-08-01 |
| 公开（公告）号： | CN101358991A | 公开（公告）日： | 2009-02-04 |
| 发明（设计）人： | 朱卫良 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第五十八研究所 |
| 主分类号： | G01P15/02 | 分类号： | G01P15/02 |
| 代理公司： | 无锡盛阳专利商标事务所（普通合伙） | 代理人： | 顾吉云 |
| 地址： | 214028江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明为微电子器件恒定加速度的测验方法。通过该方法测定电子器件恒定加速度时对电子器件用力均匀，器件受伤的机率小。其特征在于：在直贴式夹具的底部铺一些细砂，然后在砂的上面铺橡胶薄膜，待检测的器件帖于薄膜并与薄膜固定，再将夹具安装于离心机进行试验。 | ||
| 搜索关键词： | 微电子 器件 恒定 加速度 检测 方法 | ||
【主权项】：
1、微电子器件恒定加速度的检测方法，其特征在于：在直贴式夹具的底部铺一些细砂，然后在砂的上面铺橡胶薄膜，待检测的器件帖于薄膜并与薄膜固定，再将夹具安装于离心机进行试验。
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