[发明专利]一种测量超短光脉冲光谱相位的新方法及其装置无效

专利信息
申请号: 200710027651.X 申请日: 2007-04-23
公开(公告)号: CN101294850A 公开(公告)日: 2008-10-29
发明(设计)人: 雷亮;林位株;焦中兴;赖天树 申请(专利权)人: 中山大学
主分类号: G01J11/00 分类号: G01J11/00;G01J9/00
代理公司: 广州粤高专利代理有限公司 代理人: 禹小明
地址: 510275广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明是应用于信息光电子学领域中超短光脉冲光谱相位测量的新方法及其装置,该方法是在由待测脉冲啁啾展宽生成的具有频率差Ω的两个准单色成分光之间引入一个带极性的时间延迟量-τ,补偿两个准单色成分光之间因脉冲展宽器引入的附加时间延迟量+τ,使其与待测脉冲同步,并一起通过和频晶体产生两个和频光,再经光谱仪获得各自的功率频谱和无干涉条纹的相干频谱;由这三个频谱通过公式计算所述两个和频光的相位差,然后采用级连方法求得待测脉冲的光谱相位曲线。能正确地确定脉冲光谱相位差的极性,为测量超短光脉冲光谱相位提供简便、实时快速而准确的测量方法和装置。
搜索关键词: 一种 测量 超短 脉冲 光谱 相位 新方法 及其 装置
【主权项】:
1、一种测量超短光脉冲光谱相位的新方法,其特征在于在由待测脉冲啁啾展宽生成的具有频率差Ω的两个准单色成分光之间引入一个带极性的时间延迟量-τ,补偿两个准单色成分光之间因脉冲展宽器引入的附加时间延迟量+τ,使其与待测脉冲同步,并一起通过和频晶体产生两个和频光,再经光谱仪获得各自的功率频谱和无干涉条纹的相干频谱;由这三个频谱通过公式计算所述两个和频光的相位差,然后采用级连方法求得待测脉冲的光谱相位曲线。
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