[发明专利]液晶显示器件电光特性与平均倾斜角对应关系的检测方法

摘要

本发明提供一种液晶显示器件电光特性与平均倾斜角对应关系的检测方法，包括以下步骤：(1)液晶显示器件像素的电气导通，使选定像素对应的电极与外置电源连接；(2)测试液晶显示器件的电光特性，即测试液晶显示器件选定像素在不同的外加电压作用下的光学显示特性；(3)测量液晶显示器件选定像素在不同外加电压作用下的平均倾斜角；(4)结合步骤(2)得到的在不同的外加电压作用下的光学显示特性和步骤(3)得到的不同外加电压下对应的平均倾斜角，得到电光特性与平均倾斜角的对应关系。本发明操作简单，容易施行，效率更高，成本低，测试结果更切合产品的实际情况。

主权项

1.一种液晶显示器件电光特性与平均倾斜角对应关系的检测方法，包括以下步骤：(1)液晶显示器件像素的电气导通，具体做法为：选定需要检测的像素，利用导电材料将液晶显示器件上选定像素对应的电极用导线连接出来，使选定像素对应的电极与外置电源连接；(2)测试液晶显示器件的电光特性，即测试液晶显示器件选定像素在不同的外加电压作用下的光学显示特性，具体做法为：在选定像素对应的电极间施加外加电压，改变选定像素上外加电压的大小，同时检测选定像素的光学显示特性，得到选定像素在不同的外加电压作用下对应的光学显示特性；(3)测量液晶显示器件选定像素在不同外加电压作用下的平均倾斜角，具体做法为：在与步骤(2)相同的环境下，在选定像素对应的电极间施加外加电压，改变选定像素上外加电压的大小，选定像素上的各个外加电压的取值与步骤(2)中的各个外加电压一致，并用平均倾斜角测试仪器同步检测平均倾斜角，得到选定像素在不同外加电压作用下对应的平均倾斜角；(4)结合步骤(2)得到的在不同的外加电压作用下的光学显示特性和步骤(3)得到的不同外加电压下对应的平均倾斜角，得到不同外加电压条件下液晶显示器件选定像素光学显示特性与平均倾斜角的对应关系，即电光特性与平均倾斜角的对应关系。