[发明专利]液晶显示器件液晶层厚度的测试方法

摘要

本发明提供一种液晶显示器件液晶层厚度的测试方法，包括以下步骤：(1)测试不同外加电压条件下液晶显示器件的平均倾斜角θ，并选择合适的一组入射角α和平均倾斜角θ作为延迟量δ测试条件；(2)测试液晶显示器件的延迟量δ，记录测量延迟量δ所采用的实际入射角α、平均倾斜角θ和所测得的延迟量δ的数值；(3)根据寻常光折射率n_o，非常光折射率n_e，步骤(2)中测试液晶显示器件延迟量δ采用的入射角α和平均倾斜角θ，计算有效双折射系数Δn_eff；(4)根据步骤(2)测试得到的延迟量δ和步骤(3)计算得到的Δn_eff，通过计算得到液晶显示器件的液晶层厚度d。本发明能够获得液晶层厚度的精确数值，且较易施行，成本低。

主权项

1.一种液晶显示器件液晶层厚度的测试方法，包括以下步骤：(1)测试不同外加电压条件下液晶显示器件的平均倾斜角θ，并选择合适的一组入射角α和平均倾斜角θ作为延迟量δ测试条件；具体做法为：(1-1)选取显示像素区域作为测试区域，将测试区域显示像素的上下电极引出，在上下电极之间施加电压，测试不同外加电压下液晶显示器件的平均倾斜角θ；(1-2)将寻常光折射率no、非常光折射率ne及测试得到的平均倾斜角θ的数值代入下面两式，即式(2)和式(3)：Δneff=no2-ne2n2sinθcosθsinα+nonen2(n2-sin2α)12-(no2-sin2α)12---(2) 其中n2＝no 2cos2θ+ne 2sin2θ (3)计算得到不同平均倾斜角θ所对应的有效双折射系数Δneff与入射角α的关系曲线；(1-3)从有效双折射系数Δneff与入射角α的关系曲线上选取较大Δneff所对应的一组入射角α和平均倾斜角θ的数值，作为延迟量δ的测试条件；(2)测试液晶显示器件的延迟量δ；具体做法为：将步骤(1)测试区域显示像素的上下电极引出，在上下电极之间施加可获得步骤(1-3)中相同平均倾斜角θ的外加电压；以步骤(1-3)中选取的入射角α角度作为延迟量δ测试的入射角α，测试液晶显示器件的延迟量δ，记录测量延迟量δ所采用的实际入射角α、平均倾斜角θ和所测得的延迟量δ的数值；(3)将寻常光折射率no，非常光折射率ne，步骤(2)中测试液晶显示器件延迟量δ采用的入射角α和平均倾斜角θ代入式(2)和式(3)，计算有效双折射系数Δneff；(4)将步骤(2)测试得到的延迟量δ和步骤(3)计算得到的Δneff 代入下式，即式(4)，δ＝Δneffd (4)通过计算得到液晶显示器件的液晶层厚度d。