[发明专利]无损测量纳米颗粒热膨胀系数的方法

摘要

本发明公开了一种无损测量纳米颗粒热膨胀系数的方法，其特征在于，将纳米颗粒材料分散在基质材料中，然后用X射线吸收精细结构谱测量分散在基质材料中的最邻近的纳米颗粒原子间的距离为r，相邻原子间距离的平方相对位移σ²，相邻原子间距离的立方相对位移C₃，根据公式(见图)计算得纳米颗粒的热膨胀系数，公式中，r为最邻近的原子间距离，R为同一配位层中的所有原子到中心原子之间的平均距离，T为测量温度，σ²＝C₂＝<(r－R)²>为相邻原子间距离的平方相对位移，C₃＝<(r－R)³>为相邻原子间距离的立方相对位移，，θ_E为纳米颗粒爱因斯坦温度。本发明方法可用于测量纳米颗粒热膨胀系数。

主权项

1、一种无损测量纳米颗粒热膨胀系数的方法，其特征在于，将纳米颗粒材料分散在基质材料中，然后用X射线吸收精细结构谱测量分散在基质材料中的最邻近的纳米颗粒原子间的距离为r，根据公式$\alpha =\frac{c_3}{\mathrm{rT}{\sigma }^2}\frac{3z(1+z)\ln (1/z)}{(1-z)(1+10z+z^2)}$ 计算得纳米颗粒的热膨胀系数，公式中，r为最邻近的原子间距离，R为同一配位层中的所有原子到中心原子之间的平均距离，T为测量温度，σ2＝C2＝<(r-R)2>为相邻原子间距离的平方相对位移，C3＝<(r-R)3>为相邻原子间距离的立方相对位移，$z=\exp (-\frac{{\theta }_E}{T}),$ θE为纳米颗粒爱因斯坦温度。