[发明专利]基于双线性模型的化工过程数据校正方法无效

专利信息
申请号: 200710036787.7 申请日: 2007-01-25
公开(公告)号: CN101004594A 公开(公告)日: 2007-07-25
发明(设计)人: 胡明慧;王永山;黎华;高倩;邵惠鹤;潘兆龙;吴胜茜 申请(专利权)人: 上海交通大学
主分类号: G05B13/04 分类号: G05B13/04
代理公司: 上海交达专利事务所 代理人: 王锡麟;张宗明
地址: 200240*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种基于双线性模型的化工过程数据校正方法,属于化工工业过程控制技术领域。本发明根据复杂化工系统满足物料平衡的关系和流程拓扑结构的平衡方程,计算求得某个化工过程装置或某几个装置的总流率和组分含量测量数据。根据上述的基本关系、该装置的拓扑结构和提供的测量数据表,建立该化工过程装置物流数据校正模型。针对物料平衡等式中的流股总流率和组分含量平衡双线性约束,校正工作可采用两步分层来实现,将双线性问题分解成二个线性约束,求解变得简单。本发明保证了估计的无偏性、校正值中的显著误差变量被剔除了、运算量小,避免了投影矩阵的计算,通过加入对过程测量变量的上下限约束,避免了显著误差的误判。
搜索关键词: 基于 双线 模型 化工 过程 数据 校正 方法
【主权项】:
1、一种基于双线性模型的化工过程数据校正方法,其特征在于,在数据校正方法的基础上,将三线性约束方程转化为双线性约束方程的方法、将双线性约束问题分解成两个线性问题求解,在求解双线性数据校正,采用两步法分别对总流率数据、组分含量进行校正,在对化工工业过程装置的物流数据校正模型建立中,根据化工设备混合器、分流器、分离器和反应器四大类的基本关系、该装置的拓扑结构和提供的测量数据表,建立其数据校正模型;用户根据通过从大量的序列实时数据经滤波、去噪、估计测量值的方差值,估算最佳校正数据,使校正值更加接近真实值;或者用户通过提高生产线的工艺流程,对流程的结构、平衡的建立、约束方程的型式、校正的范围和深度等等方面的权衡把握,获得要求的数据校正效果。
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