[发明专利]测量三通道荧光共振能量转移显微镜G参数的方法无效
申请号: | 200710039414.5 | 申请日: | 2007-04-12 |
公开(公告)号: | CN101042345A | 公开(公告)日: | 2007-09-26 |
发明(设计)人: | 付国;王桂英;徐至展 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64;G06F19/00 |
代理公司: | 上海新天专利代理有限公司 | 代理人: | 张泽纯 |
地址: | 201800上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 一种三通道荧光共振能量转移显微镜G参数的测量方法,该方法的步骤如下:①测量三通道荧光共振能量转移显微镜漏过系数;②用三通道荧光共振能量转移显微镜测量CFP-YFP融合蛋白在CFP,YFP和FRET通道内的平均荧光强度;③计算三通道荧光共振能量转移显微镜G参数。本发明在活细胞内测量了三通道FRET显微镜G参数,并且测量结果的标准误很小,表明测量的精度很好。 | ||
搜索关键词: | 测量 通道 荧光 共振 能量 转移 显微镜 参数 方法 | ||
【主权项】:
1、一种三通道荧光共振能量转移显微镜G参数的测量方法,其特征在于该方法的步骤如下:①测量三通道荧光共振能量转移显微镜漏过系数:在中国仓鼠卵巢癌细胞内分别表达青色荧光蛋白CFP和黄色荧光蛋白YFP,利用三通道荧光共振能量转移显微镜分别测量表达YFP荧光蛋白的CHO细胞在FRET通道和YFP通道内的平均荧光强度,分别测量表达CFP荧光蛋白的CHO细胞在FRET通道和CFP通道内的平均荧光强度,利用下列公式计算计算漏过系数a,b:a=IFRET(Y)/IYFP(Y) b=IFRET(C)/ICFP(C) 式中:IFRET(Y)表示YFP蛋白在FRET通道内的平均荧光强度,IYFP(Y)表示YFP蛋白在YFP通道内的平均荧光强度,IFRET(C)表示CFP蛋白在FRET通道内的平均荧光强度,ICFP(C)表示CFP蛋白在CFP通道内的平均荧光强度。②用三通道荧光共振能量转移显微镜测量CFP-YFP融合蛋白在CFP,YFP和FRET通道内的平均荧光强度,三通道荧光共振能量转移显微镜G参数:在CHO细胞内表达CFP-YFP融合蛋白,表达CFP-YFP融合蛋白的CHO细胞用三通道FRET显微镜分别记录CFP,YFP和FRET通道内的平均荧光强度为CFP,YFP和FRET;③计算三通道荧光共振能量转移显微镜G参数:计算FC=FRET-(a×YFP)-(b×CFP) FR=[FRET-(b×CFP)]/(a×YFP) G=[1-(FR-1)×0.094]×FC/[(FR-1)×0.094×CFP]式中0.094是本发明使用的系统在440nm激发时YFP荧光团与CFP荧光团的吸收系数之比。
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