[发明专利]一种稳定同位素22Ne、20Ne产品的气体纯度分析方法无效

专利信息
申请号: 200710041225.1 申请日: 2007-05-25
公开(公告)号: CN101311707A 公开(公告)日: 2008-11-26
发明(设计)人: 杜晓宁;李虎林;于国庆 申请(专利权)人: 上海化工研究院
主分类号: G01N23/00 分类号: G01N23/00;G01T1/167;G01N30/26;G01N30/62
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 代理人: 余岚
地址: 20006*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及了一种热扩散法生产稳定同位素22Ne、20Ne产品中微量杂质的色谱分析方法,其特征在于应用关键组分分析数学概率理论,结合同位素分离实际状况,采用三点概括法实现稳定性同位素22Ne、20Ne气体纯度的气相色谱法一次检测。该方法通过检测稳定同位素22Ne、20Ne产品气体中氧气、氮气及氢气的含量来间接实现对22Ne、20Ne化学纯度的分析。该方法对高纯22Ne、20Ne同位素产品气体纯度检测灵敏度达到99.99%,产品中H2、O2、N2的杂质成分检测灵敏度达到3-20ppm级,而进样量为0.5-1.2ml,并且重现性好、速度快、方法简单方便、便于推广至稳定同位素22Ne、20Ne的生产质量控制及激光陀螺制备工艺的工作气体成分分析中。
搜索关键词: 一种 稳定 同位素 sup 22 ne 20 产品 气体 纯度 分析 方法
【主权项】:
1.一种稳定同位素22Ne、20Ne产品的气体纯度分析方法,其特征在于,该方法通过检测稳定同位素22Ne、20Ne产品气体中氧气、氮气及氢气的含量来间接实现对22Ne、20Ne化学纯度的分析。
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