[发明专利]界面裂纹扩展阻力表征涂层附着强度的测试方法无效
| 申请号： | 200710044481.6 | 申请日： | 2007-08-02 |
| 公开（公告）号： | CN101109696A | 公开（公告）日： | 2008-01-23 |
| 发明（设计）人： | 沈耀;聂璞林;周滔;蔡珣 | 申请（专利权）人： | 上海交通大学 |
| 主分类号： | G01N19/04 | 分类号： | G01N19/04;G01N19/08;G06F19/00 |
| 代理公司： | 上海交达专利事务所 | 代理人： | 王锡麟;王桂忠 |
| 地址： | 200240*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及的是一种检测技术领域的界面裂纹扩展阻力表征涂层附着强度的测试方法。本发明利用外加载荷推动镶入基体中的楔形块，使附着在楔形块与基体共同表面上的涂层挠曲，促使裂纹在涂层与基体界面萌生扩展，通过显微观察设备，从试样的侧面或表面直接观察裂纹几何形状，通过断裂力学计算出涂层附着强度。该测试方法克服了现有涂层附着强度测试方法测试试样制备复杂、涂层与基体界面受到污染、膜基界面裂纹不能直接观察缺点，提供了一种简单、快速的定量测量涂层附着强度的方法。 | ||
| 搜索关键词： | 界面 裂纹 扩展 阻力 表征 涂层 附着 强度 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种界面裂纹扩展阻力表征涂层附着强度的测试方法，其特征在于，利用外加载荷推动镶入基体中的楔形块，使附着在楔形块与基体共同表面上的涂层挠曲，促使裂纹在涂层与基体界面萌生扩展，通过显微观察设备，从试样的截面或表面直接观察裂纹几何形状，通过断裂力学计算出涂层附着强度。
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