[发明专利]一种合成有机-无机复合的氧化锗单晶纳米线的方法无效
申请号: | 200710044722.7 | 申请日: | 2007-08-09 |
公开(公告)号: | CN101109102A | 公开(公告)日: | 2008-01-23 |
发明(设计)人: | 高庆生;张亚红;唐颐 | 申请(专利权)人: | 复旦大学 |
主分类号: | C30B7/10 | 分类号: | C30B7/10;C30B7/00;C30B29/22;C30B29/62 |
代理公司: | 上海正旦专利代理有限公司 | 代理人: | 陆飞;盛志范 |
地址: | 20043*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明属于纳米材料技术领域,具体为一种合成有机-无机复合的氧化锗单晶纳米线的方法。该方法是以氧化锗作为锗源,与氧化铁进行混合研磨后,通过有机胺的液-固相处理,最终获得有机-无机复合的单晶氧化锗纳米线。其成分主要包括无机部分(GeO2),以及有机部分(如乙二胺、1,6-己二胺、乙醇胺、正丁胺)。由本发明方法制备的复合纳米线具有规律的有机-无机复合亚纳米周期性结构、可调控的物化性质、大的比表面积以及粗细、长短可调控的特性,因此这种复合的氧化锗纳米线可在许多领域,例如纳米器件组装、先进催化剂的设计、生物荧光标记、微观传导以及先进光学、电学和磁学材料的合成中有应用价值。 | ||
搜索关键词: | 一种 合成 有机 无机 复合 氧化 锗单晶 纳米 方法 | ||
【主权项】:
1.一种有机-无机复合的单晶氧化锗纳米线的合成方法,其特征在于具体步骤如下:(1)将氧化锗粉末与VIII族金属氧化物混合,研磨5-10分钟,得混合均匀的粉体;其中,氧化锗和VIII族金属氧化物的质量比为0.5∶1~10∶1;(2)将混合物投入反应釜,随后注射有机胺和蒸馏水,拧紧反应釜并将其置于烘箱之中,反应温度150~250℃,反应时间1天~5天;其中,有机胺与水的体积比是0.1∶1~5∶1;混合物与有机胺固液质量比是0.02∶1~1.0∶1;(3)将反应好的固体取出,离心分离,用乙醇清洗2-3次,在60~90℃烘干8~24小时,得到产物。
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