[发明专利]晶圆级封装结构及其制作方法有效
申请号: | 200710045056.9 | 申请日: | 2007-08-20 |
公开(公告)号: | CN101373748A | 公开(公告)日: | 2009-02-25 |
发明(设计)人: | 马俊;赖金榜 | 申请(专利权)人: | 宏茂微电子(上海)有限公司 |
主分类号: | H01L23/485 | 分类号: | H01L23/485;H01L21/60 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人: | 左一平 |
地址: | 200000上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明涉及一种晶圆级封装结构,包括一芯片、多个球底金属层以及多个聚合物凸块。芯片具有多个焊垫以及一保护层,其中保护层具有多个第一开口以将焊垫暴露。球底金属层覆盖保护层所暴露出的焊垫。聚合物凸块配置于球底金属层上,其中各聚合物凸块包括一聚合物层、至少一导电柱以及一接合层。聚合物层具有至少一贯孔,而导电柱配置于贯孔中,且接合层覆盖导电柱,并通过导电柱与对应的焊垫电性连接。本发明可以提高芯片封装体与载板间的电性连接的可靠度。 | ||
搜索关键词: | 晶圆级 封装 结构 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
1.一种晶圆级封装结构,其特征在于包括:一芯片,具有多个焊垫以及一保护层,其中该保护层具有多个第一开口以将该些焊垫暴露;多个球底金属层,覆盖该保护层所暴露出的该些焊垫;多个聚合物凸块,配置于该些球底金属层上,各该些聚合物凸块包括:一聚合物层,具有至少一贯孔;至少一导电柱,配置于该贯孔中;以及一接合层,覆盖该导电柱,且该接合层通过该导电柱与对应的该焊垫电性连接。
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