[发明专利]环形振荡器速度测试结构无效
| 申请号： | 200710045074.7 | 申请日： | 2007-08-21 |
| 公开（公告）号： | CN101373203A | 公开（公告）日： | 2009-02-25 |
| 发明（设计）人： | 彭兴伟;王伟;赵芳芳;何佳 | 申请（专利权）人： | 中芯国际集成电路制造（上海）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人： | 陆嘉 |
| 地址： | 201203*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明揭示了一种环形振荡器速度测试结构，一小尺寸输出电路直接连接于环形振荡器电路，输出振荡器波形，其中，小尺寸输出电路的寄生电容足够小，使得环形振荡器电路的输出能够直接驱动小尺寸输出电路。采用本发明的技术方案，使用较小的输出电路，这样寄生电容也较小，使得环形振荡器电路的输出能够直接驱动输出电路，省去了缓存的使用，也不必再对环形振荡器电路的输出波形进行放大，有效提高了测试结果的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 环形 振荡器 速度 测试 结构 | ||
【主权项】：
1.一种环形振荡器速度测试结构，其特征在于，一小尺寸输出电路，直接连接于环形振荡器电路，输出振荡器波形，其中，所述小尺寸输出电路的寄生电容足够小，使得环形振荡器电路的输出能够直接驱动所述小尺寸输出电路。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中芯国际集成电路制造（上海）有限公司，未经中芯国际集成电路制造（上海）有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200710045074.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
