[发明专利]制备大块均匀超细晶材料的镦压方法有效
申请号: | 200710045629.8 | 申请日: | 2007-09-06 |
公开(公告)号: | CN101117694A | 公开(公告)日: | 2008-02-06 |
发明(设计)人: | 王渠东 | 申请(专利权)人: | 上海交通大学 |
主分类号: | C22F1/00 | 分类号: | C22F1/00 |
代理公司: | 上海交达专利事务所 | 代理人: | 王锡麟;王桂忠 |
地址: | 200240*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 一种材料加工领域的制备大块均匀超细晶材料的镦压方法,通过设计上型腔和下型腔的形状,使待加工材料通过上型腔和下型腔每道次镦压变形后,将材料自动恢复为变形前形状,具体为:上型腔采用竖直的长方体,下型腔采用圆柱体或者长方体,则每道次镦压变形后的材料为一圆柱体或者长方体,如果是长方体,变形前材料的高度、宽度和长度尺寸在变形后分别成为长度、高度和宽度尺寸,如果是圆柱体,变形前的直径变形后成为高度,这样通过上型腔和下型腔变形后的材料自动恢复为原来的形状,进行多道次变形,从而制备大块均匀超细晶材料。本发明具有显著的晶粒细化效果,操作简单,成本低廉,易于工业化生产。 | ||
搜索关键词: | 制备 大块 均匀 超细晶 材料 方法 | ||
【主权项】:
1.一种制备大块均匀超细晶材料的镦压方法,其特征在于,通过设计上型腔和下型腔的形状,使待加工材料通过上型腔和下型腔每道次镦压变形后,将材料自动恢复为变形前形状,具体为:上型腔采用竖直的长方体,下型腔采用圆柱体或者长方体,则每道次镦压变形后的待加工材料为一圆柱体或者长方体,如果是长方体,变形前待加工材料的高度、宽度和长度尺寸在变形后分别成为长度、高度和宽度尺寸,如果是圆柱体,变形前的直径变形后成为高度,这样通过上型腔和下型腔变形后的材料自动恢复为原来的形状,进行多道次变形,从而制备大块均匀超细晶材料。
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