[发明专利]存储器的布局方法和结构有效
| 申请号： | 200710046493.2 | 申请日： | 2007-09-26 |
| 公开（公告）号： | CN101399251A | 公开（公告）日： | 2009-04-01 |
| 发明（设计）人： | 王君丽;颜金国 | 申请（专利权）人： | 中芯国际集成电路制造（上海）有限公司 |
| 主分类号： | H01L23/528 | 分类号： | H01L23/528;H01L23/544 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人： | 逯长明 |
| 地址： | 201203*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种存储器的布局方法，包括：设置多个存储单元的行线和列线；在所述行线的边缘区域，每隔预定行数量的行线设置行定位标记；在所述列线的边缘区域，每隔预定列数量的列线设置列定位标记。本发明还提供一种存储器的布局结构。本发明所提供的存储器的布局方法和结构，可用于存储器产品失效地址快速定位，以此提高半导体存储器的失效分析的效率和准确性，节约失效分析的成本。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 布局 方法 结构 | ||
【主权项】：
1. 一种存储器的布局方法，其特征在于，包括：设置多个存储单元的行线和列线；在所述行线的边缘区域，每隔预定行数量的行线设置行定位标记；在所述列线的边缘区域，每隔预定列数量的列线设置列定位标记。
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