[发明专利]低电压/低漏电流的TVS二极管器件结构及其制备方法有效

专利信息
申请号: 200710047576.3 申请日: 2007-10-30
公开(公告)号: CN101425463A 公开(公告)日: 2009-05-06
发明(设计)人: 纪刚 申请(专利权)人: 上海韦尔半导体股份有限公司
主分类号: H01L21/329 分类号: H01L21/329;H01L29/861
代理公司: 上海智信专利代理有限公司 代理人: 薛 琦
地址: 201203上海市浦东新*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种低电压/低漏电流的TVS二极管结构及其制备方法,其方法包括步骤:S1、在<100>晶面上形成外延层P-,S2、在<100>晶面上刻蚀出深槽区域,S3、在<100>晶面上的外延层P-中注入N杂质形成N型区,S4、表面热氧处理形成氧化层之后开出阳极接触和阴极接触。本发明的TVS二极管,包括P型浓衬底、外延层P-和N杂质,形成N+/P-/P++深槽隔离结构。本发明制备工艺成熟,产品具有反向击穿电压小于6V,反向漏电流为0.1-0.5μA的优点。
搜索关键词: 电压 漏电 tvs 二极管 器件 结构 及其 制备 方法
【主权项】:
1、一种低电压/低漏电流的TVS二极管的制备方法,包括步骤:S1、在电阻率为0.002-0.04ohm·cm,衬底浓度为1E19-5E19/cm3的P型衬底<100>晶面上区域(101),在1100℃条件下化学气相生长厚度为2.5-5μm,电阻率为10-50ohm·cm的P型外延生成外延层P-区域(102),外延层P-区域(102)的浓度为1E14-1E16/cm3;S2、在所述<100>晶面取区域(103)进行干法刻蚀深槽结构,使得深槽一直达到P衬底上,深度为3-6um;S3、在晶面<100>上外延层P-中取N型注入区域(104),以离子注入5E15-1E16/cm2的磷,形成N+注入,浓度为1E20/cm3,结深D1大约为0.5-1μm;S4、由表面热氧处理后形成10000A°的氧化层,然后在晶面<100>上适当处开出窗口,作为TVS二极管的阴极接触和阳极接触。
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