[发明专利]低电压/低漏电流的TVS二极管器件结构及其制备方法有效
申请号: | 200710047576.3 | 申请日: | 2007-10-30 |
公开(公告)号: | CN101425463A | 公开(公告)日: | 2009-05-06 |
发明(设计)人: | 纪刚 | 申请(专利权)人: | 上海韦尔半导体股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/329 | 分类号: | H01L21/329;H01L29/861 |
代理公司: | 上海智信专利代理有限公司 | 代理人: | 薛 琦 |
地址: | 201203上海市浦东新*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 一种低电压/低漏电流的TVS二极管结构及其制备方法,其方法包括步骤:S1、在<100>晶面上形成外延层P-,S2、在<100>晶面上刻蚀出深槽区域,S3、在<100>晶面上的外延层P-中注入N杂质形成N型区,S4、表面热氧处理形成氧化层之后开出阳极接触和阴极接触。本发明的TVS二极管,包括P型浓衬底、外延层P-和N杂质,形成N+/P-/P++深槽隔离结构。本发明制备工艺成熟,产品具有反向击穿电压小于6V,反向漏电流为0.1-0.5μA的优点。 | ||
搜索关键词: | 电压 漏电 tvs 二极管 器件 结构 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
1、一种低电压/低漏电流的TVS二极管的制备方法,包括步骤:S1、在电阻率为0.002-0.04ohm·cm,衬底浓度为1E19-5E19/cm3的P型衬底<100>晶面上区域(101),在1100℃条件下化学气相生长厚度为2.5-5μm,电阻率为10-50ohm·cm的P型外延生成外延层P-区域(102),外延层P-区域(102)的浓度为1E14-1E16/cm3;S2、在所述<100>晶面取区域(103)进行干法刻蚀深槽结构,使得深槽一直达到P衬底上,深度为3-6um;S3、在晶面<100>上外延层P-中取N型注入区域(104),以离子注入5E15-1E16/cm2的磷,形成N+注入,浓度为1E20/cm3,结深D1大约为0.5-1μm;S4、由表面热氧处理后形成10000A°的氧化层,然后在晶面<100>上适当处开出窗口,作为TVS二极管的阴极接触和阳极接触。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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