[发明专利]综合检测数控铣床精度的“S”形检测试件及其检测方法有效

专利信息
申请号: 200710048269.7 申请日: 2007-01-16
公开(公告)号: CN101000285A 公开(公告)日: 2007-07-18
发明(设计)人: 宋智勇;崔雅文 申请(专利权)人: 成都飞机工业(集团)有限责任公司
主分类号: G01M19/00 分类号: G01M19/00;B23Q17/00
代理公司: 成飞(集团)公司专利中心 代理人: 郭纯武
地址: 610092*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开的是综合检测数控铣床精度的“S”形检测试件及其检测方法,其试件由呈“S”形状的等厚缘条和矩形基座组合而成,分别在两个不同平面内生成的两条“S”形曲线在基座平面的投影互相交叉,并具有在交汇处转换变化弯曲形成的开、闭角形态。本发明具有比NAS件更为方便、直观的优越性。可以直接用常用的壁厚卡尺检测“S”件缘条厚度,根据缘条上下部、不同区域的厚度情况,分析判断五坐标联动精度;还可以通过检测“S件”基座平面与缘条结合部位的刀具轨迹以及缘条型面的光顺情况,分析判断机床RTCP功能是否符合要求、后置处理程序的正确性以及机床的空间运动精度;从而弥补了“NAS件”不能检查机床RTCP功能和对后置处理程序无法检验的不足。
搜索关键词: 综合 检测 数控 铣床 精度 及其 方法
【主权项】:
1.一种综合检测数控铣床精度的“S”形检测试件及其检测方法,所述试件由一个呈“s”形状的直纹面等厚缘条和一个矩形基座组合而成,分别在两个不同平面内生成的两条“S”形曲线在基座平面的投影互相交叉,并具有在交汇处转换变化弯曲形成的开、闭角形态,所述直纹面与基座平面夹角角度沿其“S”线的运动轨迹呈非均匀变化走向。
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