[发明专利]一种测量材料残余应力变化的装置及方法有效
申请号: | 200710051260.1 | 申请日: | 2007-01-15 |
公开(公告)号: | CN101013105A | 公开(公告)日: | 2007-08-08 |
发明(设计)人: | 王明道;陈洪强 | 申请(专利权)人: | 武汉晶泰科技有限公司 |
主分类号: | G01N27/72 | 分类号: | G01N27/72;G01L1/12;G01R33/12 |
代理公司: | 北京市德权律师事务所 | 代理人: | 李维真 |
地址: | 430058湖北省武汉市*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种测量材料残余应力变化的装置及方法,特征在于:通过磁致伸缩测量铁磁材料的残余应力变化。包括测量系统和数据处理方法两部分。测量系统包括产生磁场的设备,测量和记录磁致伸缩的设备两部分组成。测量和记录磁致伸缩的设备包括电阻应变片,动态应变仪和计算机采集系统。数据处理方法是将初始磁致伸缩平均值和终了磁致伸缩平均值用一个公式处理,得到残余应力变化情况。解决了现有技术中降低、控制及测量残余应力的难题。本发明具有快捷、高效、不引起材料变形等特点。 | ||
搜索关键词: | 一种 测量 材料 残余 应力 变化 装置 方法 | ||
【主权项】:
1.一种测量材料残余应力变化的装置,包括:测量系统和数据处理系统;测量系统包括产生磁场的设备,测量和记录磁致伸缩的设备。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉晶泰科技有限公司,未经武汉晶泰科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200710051260.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:自动分析装置
- 下一篇:一种用银行卡自动检索支付的方法