[发明专利]一种基于彩色结构光的二维三频解相测量方法有效
申请号: | 200710052727.4 | 申请日: | 2007-07-11 |
公开(公告)号: | CN101089547A | 公开(公告)日: | 2007-12-19 |
发明(设计)人: | 周钢;王从军;李中伟;杜俊贤;朱本璋;秦大辉;张贵姣 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学 |
主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00;G01B11/03;G01B11/25;G01C11/08 |
代理公司: | 华中科技大学专利中心 | 代理人: | 曹葆青 |
地址: | 430074湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 一种基于彩色结构光的二维三频解相测量方法,步骤为:①制备三幅由二种频率相同的不同的三原色正弦光复合而成的光栅;②投影光栅到被测物体,利用二台相同CCD摄像机拍摄,获得24幅照片;③对拍摄的照片进行解相,得到各照片上各个像素点的X方向和Y方向上的相位值;④对两个相位值进行匹配,计算出各点的三维坐标。本发明克服了一唯方向上编码的缺陷和匹配精度不高的缺点,使得编码匹配更为有效和精确。避免了机械测量方法中因为接触变形所引起的测量误差,提高了测量精度;无需通过二维扫描来获取三维信息,提高了测量速度;可以同时记录物体的色彩信息,使反求工程从物体三维形状的获取进一步延伸到物体色彩的反求。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 彩色 结构 二维 三频解相 测量方法 | ||
【主权项】:
1、一种基于彩色结构光的二维三频解相测量方法,其步骤包括:(1)制备三幅光栅,光栅均由X方向上的正弦光和Y方向上的具有相同频率的正弦光复合而成,X、Y方向上的二种正弦光为不同的三原色,并且三幅光栅满足式(I)的要求λ 123 = λ 12 λ 23 λ 12 - λ 23 = 1 - - - ( I ) ]]>λ12和λ23分别为对λ1,λ2叠加和λ2,λ3叠加获得的更低频率的相位函数Φ12(x)和Φ23(x)所对应的频率,λ123(x)为对λ12和λ23叠加获得更低频率函数Φ123(x)所对应的频率,其中λj分别为三幅光栅的正弦波相位函数Φ1(x),Φ2(x),Φ3(x)的频率,并互不相同,j=1,2,3;(2)投影一幅光栅到被测物体,在物体表面形成变形的光栅条纹,利用二台相同CCD摄像机拍摄,二台CCD摄像机的夹角范围为0-180度,再将这幅光栅分别移动π/2、π、3π/2,并分别进行拍摄,获得四幅照片;对其它两幅光栅进行同样的操作,每个光栅分别获得四幅照片;(3)按照下述过程对一台CCD摄像机拍摄的12幅照片进行解相:(3.1)从照片中分离出二维方向上的单色光;(3.2)采用四步相移法获得照片上像素点的主相值:利用四步相移法将光栅在栅线的垂直方向上平移栅距的1/4,则式(1)的光强表达式中相位将移动π/2,等距离平移3次,获得4幅光栅投影图像,并计算每一幅光栅投影图像中每个象素的相对相位1(x.y)、2(x.y)和3(x.y);-π<≤π其中,Ii为光强值,i=1,2,3,4,j=1,2,3;(3.3)对频率为λ1,λ2的两个光栅条纹图像相加,求解两种条纹的相位Φ1,Φ21;对频率为λ2,λ3的两个光栅条纹图像相加,求解两种条纹的相位Φ22,Φ3;(3.4)对Φ21,Φ22求平均值,得到第二幅光栅条纹图的全场相位值Φ2,根据全场相位值Φ2得到一个方向上的相位灰度线;(3.5)对分离出来另一种单原色光,重复步骤(3.2)至(3.4),得到另一个方向上的相位灰度线;(3.6)根据被测物体拍摄图片在X方向和Y方向个上的相位灰度线,得到各个像素点的X方向和Y方向上的相位值(u,v);(4)根据步骤(3.1)到(3.6)对另一台CCD摄像机拍摄的12幅照片进行解相,得到各照片上各个像素点的X方向和Y方向上的相位值(u’,v’);(5)对上述两个CCD所拍摄图像的像素点的相位值(u,v),(u’,v’)进行匹配,根据匹配点和CCD的内外参数,计算出各点的三维坐标。
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