[发明专利]扩散抛光片单侧主扩散制作方法有效
申请号: | 200710055275.5 | 申请日: | 2007-01-26 |
公开(公告)号: | CN101030529A | 公开(公告)日: | 2007-09-05 |
发明(设计)人: | 王新;黄光波;刘广海;商亚峰;佐义忠;陶巍;邹光祎 | 申请(专利权)人: | 吉林华微电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;H01L21/22;H01L21/302 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 132013*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: | 一种扩散抛光片单侧主扩散制作方法,属于半导体器件制造工艺技术领域。现有方法不管是预扩散还是主扩散,扩散过程始终在硅单晶片两侧同时同样地进行,硅单晶片的结构呈N+-N--N+形态,而制造半导体器件所需的扩散抛光片其结构应当为N+-N-形态,需要再采用减薄抛光工艺将一侧的N+层去掉,造成硅单晶材料的浪费。本发明采取在硅单晶片一侧生成起阻止扩散作用的掩蔽层,或者在主扩散之前去掉硅单晶片一侧的预扩散层的方法,使得主扩散只在硅单晶片的一侧进行,这样的话,一开始即可选用较薄的硅单晶片,如300~400μm,实现了节省硅单晶材料的发明目的。本发明可应用于半导体器件制造行业。 | ||
搜索关键词: | 扩散 抛光 片单侧主 制作方法 | ||
【主权项】:
1、一种扩散抛光片单侧主扩散制作方法,采用二步扩散法在片状半导体单晶材料中掺杂,获得制造半导体器件的中间产品扩散抛光片,其特征在于,A、在预扩散之前,在片状半导体单晶材料的一侧生成预扩散掩蔽层(1),预扩散后,只在另一侧形成预扩散层,或者先预扩散,此时在片状半导体单晶材料两侧形成预扩散层,然后去掉一侧的预扩散层,保留另一侧的预扩散层;B、进行主扩散,使另一侧的预扩散层扩散为高浓度深扩散层,直接获得扩散抛光片。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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