[发明专利]金刚石对顶砧上样品厚度的测量方法无效
申请号: | 200710055497.7 | 申请日: | 2007-04-09 |
公开(公告)号: | CN101038149A | 公开(公告)日: | 2007-09-19 |
发明(设计)人: | 李明;高春晓;贺春元;郝爱民;黄晓伟;张东梅;于翠玲 | 申请(专利权)人: | 吉林大学 |
主分类号: | G01B5/06 | 分类号: | G01B5/06 |
代理公司: | 长春吉大专利代理有限责任公司 | 代理人: | 王恩远 |
地址: | 130012吉*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: | 本发明的金刚石对顶砧上样品厚度的测量方法属物理量测试技术领域。测量步骤为:测量常压下对顶砧的两颗金刚石的高度为H0;在加压过程中测量一组压强P与金刚石和样品厚度TL(P)对应的数据;压强达到最大值时开始卸压,在卸压过程中测量一组任意压强P与金刚石和样品厚度TD(P)对应的数据;测得压强降到常压时金刚石和样品厚度为TD(0);在同一坐标系中拟合TL(P)~P和TD(P)~P曲线;利用公式t(P)=TD(0)-H0+TL(P)-TD(P)计算在任意压强P时样品厚度t(P)。本发明通过简单有效的设计,去除影响金刚石对顶砧上样品厚度测量的因素,使得一直困扰高压研究人员的厚度测量问题得到解决。 | ||
搜索关键词: | 金刚石 顶砧上 样品 厚度 测量方法 | ||
【主权项】:
1、一种金刚石对顶砧上样品厚度的测量方法,其特征在于,有如下的测量步骤:第一步、测量常压下金刚石对顶砧的两颗金刚石的高度记为H0;将样品装于组装好的金刚石对顶砧内,将带有两根硬质合金探针的千分尺直接接触金刚石对顶砧的上、下底面;第二步、在加压过程中,达到需要测量样品厚度的压强P时,记下千分尺的读数记为TL(P);继续加压后开始卸压;第三步、在卸压过程中,达到需要测量样品厚度的压强P时,记下千分尺的读数记为TD(P);继续卸压使压强到常压时,记下千分尺的读数记为TD(0);第四步、利用公式计算在压强P时,样品的厚度t(P):t(P)=TD(0)-H0+TL(P)-TD(P)。
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