[发明专利]快速探测宽谱面光谱的方法有效

专利信息
申请号: 200710058715.2 申请日: 2007-08-10
公开(公告)号: CN101135589A 公开(公告)日: 2008-03-05
发明(设计)人: 王庆有 申请(专利权)人: 天津市耀辉光电技术有限公司
主分类号: G01J3/28 分类号: G01J3/28;G01J3/18
代理公司: 天津市北洋有限责任专利代理事务所 代理人: 王丽
地址: 300190天津市南开区工业*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明属于光栅摄谱仪快速探测宽谱面光谱的技术,本发明的快速探测宽谱面光谱的方法,包括多个CCD器件拼接探测光栅摄谱仪宽阔谱面的光谱、同步并行数据采集技术和三维显示不同时段光谱的技术。是在光栅摄谱仪的谱面位置安装由多个线阵CCD器件首尾交错拼接,并使前面CCD的末尾像元与后面CCD的首像元在垂直像元排列方向上重合。拼接时使两行线阵CCD像敏阵列的中心距小于等于12mm,拼接起来的探测器在240mm宽的范围内探测谱线高度超过12mm高的光谱。不仅含有线阵CCD器件按机械拼接方式实现无缝拼接的技术、多路并行数据采集的技术还包括以三维空间图像显示方式显示所采光谱的技术。而且能够探测不同时间段光谱的变化和同一时刻谱面各光谱的强度。
搜索关键词: 快速 探测 宽谱面 光谱 方法
【主权项】:
1.一种快速探测宽谱面光谱的方法,包括光栅摄谱仪和多个CCD器件;其特征是在光栅摄谱仪的谱面位置安装由多个线阵CCD器件,线阵CCD采用首尾交错拼接,并使前面CCD的末尾像元与后面CCD的首像元在垂直像元排列方向上重合。
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