[发明专利]测定包括混浊介质材料全部光学参数的光谱仪系统及方法

摘要

一种测定包括混浊介质材料全部光学参数的光谱仪系统及方法。系统：计算机分别与光源、单色仪、样品装置、及信号测量相连接；光源所发出的光通过单色仪、光路到样品装置；从样品装置出射的光信号通过光路至与计算机相连的信号测量。方法：获取输入计算设定波段内所有波长上实测光信号和测量误差值，获取并输入样品系统参数；进入折射率计算子程序；输入样品光学参数初始值与实测光信号相比计算并输出光折射率光谱；进入光传输理论计算子程序，调整样品光学参数比较实测光信号与计算光信号差别；差别小于测量误差值时计算并输出样品其他光学参数光谱，否则返回光传输理论计算子程序。本发明测量系统使用方便，能够准确地测定光信号和包括混浊材料在内的材料全部光学参数。

主权项

1.一种测定包括混浊介质材料全部光学参数的光谱仪系统，其特征在于，包括有：光源部分，单色仪部分(2)，光路部分，样品装置部分，信号测量部分，和计算机部分(16)；其中，用于控制与数据处理及计算的计算机部分(16)分别与光源部分、单色仪部分(2)、样品装置部分、及信号测量部分相连接；光源部分所发出的光通过单色仪部分(2)、光路部分射入到样品装置部分；从样品装置部分出射的光信号通过光路部分至与计算机部分(16)相连的信号测量部分。