[发明专利]双源三维立体成像系统和成像方法有效
申请号: | 200710062994.X | 申请日: | 2007-01-24 |
公开(公告)号: | CN101231254A | 公开(公告)日: | 2008-07-30 |
发明(设计)人: | 张丽;康克军;刘以农;李元景;邢宇翔;李亮;赵自然;肖永顺 | 申请(专利权)人: | 清华大学;同方威视技术股份有限公司 |
主分类号: | G01N23/04 | 分类号: | G01N23/04 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 陈瑞丰 |
地址: | 10008*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提出了一种新型三维立体成像系统及成像方法,采用双X射线源和双探测器,两个X射线源分别沿两条成一定角度且错开布置的直线导轨运动,探测器阵列固定,而被检测物体则沿垂直于X射线源和探测器所在平面的直线运动。该成像系统和成像方法能够实现真正的三维立体成像,并且具有结构相对简单,待检测物体或者X射线源及探测器不需要旋转,检查速度较快,货物通过速度较高等特点;因此本发明具有应用于快速安全检查领域和大物体检查领域的潜力。和单源单直线扫描结构相比,本发明能够实现真正意义的三维图像检查,图像质量明显好于单源单直线扫描系统。 | ||
搜索关键词: | 三维立体 成像 系统 方法 | ||
【主权项】:
1.一种三维立体成像系统,包括:射线发生装置,沿第一轴和第二轴往复运动辐射X射线,以透射沿垂直于第一轴和第二轴的方向直线运动的待检查物体,所述第一轴和第二轴彼此成一定角度布置,且相互错开而处在不同的平面内;第一阵列探测器和第二阵列探测器,分别平行与第一轴和第二轴,且与第一轴和第二轴相对放置,检测透射待检查物体的射线,得到投影数据;以及数据处理装置,用于对第一阵列探测器和第二阵列探测器检测到的投影数据进行处理,得到待检查物体的三维立体图像。
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