[发明专利]一种存储器辐照测试方法以及实现该方法的装置有效
| 申请号： | 200710064298.2 | 申请日： | 2007-03-09 |
| 公开（公告）号： | CN101017193A | 公开（公告）日： | 2007-08-15 |
| 发明（设计）人： | 朱一明;韩飞 | 申请（专利权）人： | 北京芯技佳易微电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R31/28;H01L21/66 |
| 代理公司： | 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 孙皓晨 |
| 地址： | 100084北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明为一种存储器辐照测试方法以及实现该方法的装置，其包括：辐射源、电平转换电路、主控单元、数据输入单元以及系统配置和处理单元。用以实现对存储器件的动态辐照测试，首先进行初始化操作，对至少一被测存储器件写入指定数据，然后开启辐射源对被测存储器件进行规定强度、规定距离、规定时间的辐照；在测试过程中根据特定的读写模式向所述被测存储器件读出数据/写入数据；实时的将被测存储器件的实际输出值和预期值进行对比，判断其是否正确；一旦出现错误数据，立刻记录其失效信息；一次实验就能找到被测存储器件失效的临界点。从而达到整个过程都在同步动态记录，减少了实验次数，节约测试成本的目的。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 存储器 辐照 测试 方法 以及 实现 装置 | ||
【主权项】：
1、一种存储器辐照测试方法，用以实现对存储器件的动态辐照测试，其特征在于：进行初始化操作，对至少一被测存储器件写入指定数据；开启辐射源对被测存储器件进行规定强度、规定距离、规定时间的辐照；在辐照过程中，根据特定的读写模式向所述被测存储器件读出数据/写入数据；实时的将被测存储器件的实际输出值和预期值进行对比，判断其是否正确；一旦出现错误数据，立即记录其失效信息；一次实验就能找到被测存储器件失效的临界点。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京芯技佳易微电子科技有限公司，未经北京芯技佳易微电子科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200710064298.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
