[发明专利]一种生成测试向量的方法无效
| 申请号： | 200710065266.4 | 申请日： | 2007-04-09 |
| 公开（公告）号： | CN101038320A | 公开（公告）日： | 2007-09-19 |
| 发明（设计）人： | 余娜敏 | 申请（专利权）人： | 北京中星微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;H03L7/07 |
| 代理公司： | 北京德琦知识产权代理有限公司 | 代理人： | 王琦;王诚华 |
| 地址： | 100083北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种生成测试向量的方法，该方法包括：A.获取同步电路同步时钟的相位和非同步信号的翻转时间点，确定为同步电路提供同步时钟的相位区间；B.调整相位锁相环PLL的配置信息，使PLL按照配置信息输出的同步时钟相位在步骤A计算出的相位区间内；C.使用调整后的PLL配置信息生成测试向量。使用本发明，可以通过调整PLL的配置信息生成测试向量，该测试向量在测试中，保证同步电路输出同步信号不发生漂移，使功能完好的芯片都能通过测试，增强了测试向量的鲁棒性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 生成 测试 向量 方法 | ||
【主权项】：
1、一种生成测试向量的方法，其特征在于，该方法包括：A、获取同步电路同步时钟的相位和非同步信号的翻转时间点，确定为同步电路提供同步时钟的相位区间；B、调整相位锁相环PLL的配置信息，使PLL按照配置信息输出的同步时钟相位在步骤A计算出的相位区间内；C、使用调整后的PLL配置信息生成测试向量。
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