[发明专利]测量颗粒流体两相流反应器内流体相组分浓度分布的方法无效

专利信息
申请号: 200710065432.0 申请日: 2007-04-13
公开(公告)号: CN101285753A 公开(公告)日: 2008-10-15
发明(设计)人: 董卫刚;王维;李静海 申请(专利权)人: 中国科学院过程工程研究所
主分类号: G01N15/00 分类号: G01N15/00;G06F17/00
代理公司: 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 代理人: 高存秀
地址: 100080北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 测量颗粒流体两相流反应器内组分浓度分布的方法,包括如下步骤:S1,计算颗粒流体两相流反应器测量区域内每个微元内的质量守恒方程、动量守恒方程,得到每个微元的流固速度和颗粒浓度分布;S2,获得稀密相结构参数在空间的离散分布构成的矩阵;S3,获得稀相和密相的组分浓度;S4,由稀相和密相的组分浓度计算微元内的流体平均密度,若流体平均密度满足精度要求,则输出流固速度,颗粒浓度和组分浓度,并结束操作;否则,将计算得到的稀密相内流体平均密度代入步骤S1中,开始下一次迭代。本发明将多尺度流动结构引入到颗粒流体传质测量过程中,充分考虑了局部传质的不均衡性,更加准确地测量颗粒流体两相流反应器内组分浓度分布。
搜索关键词: 测量 颗粒 流体 两相 反应器 组分 浓度 分布 方法
【主权项】:
1、测量颗粒流体两相流反应器内组分浓度分布的方法,包括如下步骤:S1,计算颗粒流体两相流反应器测量区域内每个微元内的质量守恒方程、动量守恒方程,得到每个微元的流固速度()和颗粒浓度分布εs;S2,获得稀密相结构参数在空间的离散分布构成的矩阵,分别为:[f],[εgc],[εgf],[dcl],其中代表稀相流体表观速度,代表稀相颗粒表观速度,代表密相流体表观速度,代表密相颗粒表观速度,f代表密相体积分数,代表介观界面加速度,代表密相加速度,代表稀相加速度,dcl代表密相团聚物直径,εc代表密相空隙率;εf代表稀相空隙率;S3,获得稀相和密相的组分浓度(Xc,Xf);S4,由稀相和密相的组分浓度计算微元内的流体平均密度,若所得到的流体平均密度和步骤S1中质量守恒方程和动量守恒方程采用的流体密度之差满足精度要求,则输出流固速度,颗粒浓度和组分浓度,并结束操作;否则,将计算得到的稀密相内流体平均密度代入步骤S1的质量守恒方程和动量守恒方程中,开始下一次迭代。
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