[发明专利]低温电阻温度系数测试装置无效
| 申请号： | 200710065725.9 | 申请日： | 2007-03-19 |
| 公开（公告）号： | CN101021502A | 公开（公告）日： | 2007-08-22 |
| 发明（设计）人： | 万吉高;刘雄;黄炳醒;雷春明;张瑞华;武海军 | 申请（专利权）人： | 贵研铂业股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N27/14 | 分类号： | G01N27/14 |
| 代理公司： | 昆明正原专利代理有限责任公司 | 代理人： | 赛晓刚 |
| 地址： | 650106云南省昆明市高新*** | 国省代码： | 云南;53 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种测试金属及合金低温电阻温度系数的装置，特别是涉及测试－196℃～+200℃温度范围内连续测试金属及其合金材料电阻的装置。该装置由恒温部分、温度测量与控制、电阻测量三部分组成，恒温部分由冷源(I)、加热器(II)、密封件(III)、恒温室(III)、保温层(IV)等部分组成；温度测量与控制由铂热电阻、铜－康铜热电偶(也可以用铂热电阻)、SWP－N智能数字仪表组成，电阻测量则采用双臂电桥法或电位计法测量。该装置可以实现同一个恒温容器、在－196℃～+200℃温度范围内的任何温度下，测试金属及其合金电阻值。 | ||
| 搜索关键词： | 低温 电阻 温度 系数 测试 装置 | ||
【主权项】：
1.一种测试金属及合金低温电阻温度系数的装置，由恒温部分、温度测量与控制、电阻测量三部分组成，其特征在于该装置的恒温部分由冷源(I)、加热器(II)、密封件(III)、恒温室(III)、保温层(IV)等部分组成；温度测量与控制由铂热电阻，铜-康铜热电偶或用铂热电阻，SWP-N智能数字仪表组成；电阻测量则采用双臂电桥法或电位计法测量。
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