[发明专利]电连接器失效率的加速验证试验方法

摘要

本发明公开了一种电连接器失效率的加速验证试验方法。首先把贮存温度水平T₀下的失效率λ(t)转化为试验温度水平T_i下的失效率λ′(t)；然后将试验温度水平T_i下与贮存温度水平T₀下失效率的鉴别比d的比较，得到其鉴别比相等，表明可以将贮存温度水平T₀下的失效率验证试验方案作为试验温度水平T_i下的加速验证试验方案；接着导出试验温度水平T_i下的加速验证试验方案与贮存温度水平T₀下的抽样验证试验方案中的截尾时间的关系为τ′=τ/α_Ti～T0，再次取定试验温度水平T_i，可以得到截尾时间关系式中的加速系数值α_Ti～T0，从而确定试验温度水平T_i下的截尾时间。本发明对电连接器实行以失效率为验证指标、以温度为加速因子的定时截尾加速验证试验能在短时间内可以评定Y11X电连接器的贮存可靠性。

主权项

1、电连接器失效率的加速验证试验方法，其特征在于该方法的步骤如下：1)在高于贮存温度水平下进行验证试验，一般电连接器的贮存温度水平为T0＝25℃；为了制定出高于贮存温度水平T0的加速验证试验方案，在贮存寿命t不变的条件下，首先必须把贮存温度水平T0下的失效率λ(t)转化为试验温度水平Ti 下的失效率λ′(t)；由于电连接器的寿命服从两参数的Weibull分布，因此，可得电连接器在试验温度水平Ti下的失效率函数为：λ′(t)＝mtm-1/(η′)m 式中，m为电连接器的形状参数，η′为电连接器在试验温度水平Ti下的特征寿命参数；由电连接器贮存温度水平T0下的失效率函数及上述试验温度水平Ti下的失效率函数可得第(1)数式：λ′(t)/λ(t)＝(η/η′)m (1)式中，η为电连接器在试验温度水平T0下的特征寿命参数；由于$\eta /{\eta }^{\prime }=a_{T_i-T_0}$ 其中，aTi～T0为不同的试验温度Ti相对于贮存温度T0的加速系数值，通过aTi～T0，第(1)数式可转化为${\lambda }^{\prime }\left(t\right)=\lambda \left(t\right)·{\left(a_{T_i-T_0}\right)}^m$ 从而${\lambda }_0^{\prime }\left(t\right)/{\lambda }_0\left(t\right)={\lambda }_1^{\prime }\left(t\right)/{\lambda }_1\left(t\right)=a_{T_i-T_0}^m$ 其中，λ0′(t)和λ1′(t)分别为试验温度水平Ti下的合格失效率和极限失效率。2)这样，在某一试验温度水平Ti下，失效率的鉴别比d′＝λ0′(t)/λ1′(t)＝λ0(t)/λ1(t)＝d也保持不变，因此可利用贮存温度水平T0下的失效率验证试验方案作为其加速验证的试验方案，只不过此时的验证指标是λ′(t)而不是λ(t)，其抽样特性函数为：$P(r\le c)=\underset{r=0}{\overset{c}{\Sigma }}{C}_n^r{\{1-\exp [-\frac{{\left({\tau }^{\prime }\right)}^m{\lambda }^{\prime }\left(t\right)}{{\mathrm{mt}}^{m-1}}\left]\right\}}^r{\left\{\exp \right[-\frac{{\left({\tau }^{\prime }\right)}^m{\lambda }^{\prime }\left(t\right)}{{\mathrm{mt}}^{m-1}}\left]\right\}}^{n-r}---\left(2\right)$ 式中，τ′为试验温度水平Ti下的验证试验截尾时间。3)在风险水平α和β，样本量n和允许失效数c保持不变的条件下，若寿命t也保持不变，那么，由$P(r\le c)=\underset{r=0}{\overset{c}{\Sigma }}{C}_n^r{\{1-\exp [-\frac{{\tau }^m\lambda \left(t\right)}{{\mathrm{mt}}^{m-1}}\left]\right\}}^r{\left\{\exp \right[-\frac{{\tau }^m\lambda \left(t\right)}{{\mathrm{mt}}^{m-1}}\left]\right\}}^{n-r}$ 及第(2)数式可得：τmλ(t)/mtm-1＝(τ′)mλ′(t)/mtm-1 (3)由第(3)数式和第(1)数式得：${\tau }^{\prime }=\tau ·{(\lambda \left(t\right)/{\lambda }^{\prime }\left(t\right))}^{1/m}=\tau ·({\eta }^{\prime }/\eta )=\tau /a_{T_i-T_0}$ 由此可见，对于以失效率为验证的加速验证试验方案，在其他参数均保持不变的条件下，只要在贮存温度水平T0下的验证试验方案中把试验截尾时间τ除以相应加速系数aTi～T0即可。