[发明专利]基于电磁与激光复合跟踪的测量方法和装置无效

专利信息
申请号: 200710067471.4 申请日: 2007-03-13
公开(公告)号: CN101021564A 公开(公告)日: 2007-08-22
发明(设计)人: 王文;卢科青;陈子辰 申请(专利权)人: 浙江大学
主分类号: G01S17/66 分类号: G01S17/66;G01S13/66
代理公司: 杭州求是专利事务所有限公司 代理人: 林怀禹
地址: 310027浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种基于电磁与激光复合跟踪的测量方法和装置。包括电磁跟踪方位引导与激光跟踪精确测量两个部分。当激光跟踪系统在测量过程中发生丢光或在初次测量前,电磁跟踪利用其大范围、对人体无遮挡的特点,依据电磁场理论,在电磁跟踪所能达到的精度范围内,迅速找到测量器上目标反射镜的粗略位置,并把测量结果传递给激光跟踪系统。激光跟踪系统以电磁跟踪的结果为指导,快速地搜索到目标反射镜,并通过绝对测距、干涉法增量测距、角度传感器测转角等功能及半径补偿算法,计算出被测点的精确位置。基于电磁与激光复合跟踪的测量方法,在保证激光跟踪测量精度不变的前提下,解决了激光跟踪测量过程中由于丢光导致操作繁琐、测量效率低下。
搜索关键词: 基于 电磁 激光 复合 跟踪 测量方法 装置
【主权项】:
1.一种基于电磁与激光复合跟踪的测量方法,其特征在于:包括电磁跟踪方位引导与激光跟踪精确测量两个部分;当激光跟踪系统在测量过程中发生丢光或初次测量前,电磁跟踪利用其大范围、对人体无遮挡的特点,依据电磁场理论,在电磁跟踪所能达到的精度范围内,找到测量器上目标反射镜粗略的空间位置,并把测量结果传递给激光跟踪系统;激光跟踪系统以电磁跟踪的结果为指导,搜索到目标反射镜,并通过绝对测距、干涉法增量测距、角度传感器测转角等功能及半径补偿算法,计算出被测点精确的空间位置。
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