[发明专利]一种快速光谱仪及其测量方法有效
| 申请号： | 200710068109.9 | 申请日： | 2007-04-17 |
| 公开（公告）号： | CN101290246A | 公开（公告）日： | 2008-10-22 |
| 发明（设计）人： | 潘建根;沈海平;丁鹏飞 | 申请（专利权）人： | 杭州远方光电信息有限公司 |
| 主分类号： | G01J3/30 | 分类号： | G01J3/30 |
| 代理公司： | 杭州杭诚专利事务所有限公司 | 代理人： | 林宝堂 |
| 地址： | 310053浙江*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种快速光谱仪及其测量方法，包括一个用于测量待测光源光谱功率分布的快速光谱解析系统，在快速光谱解析系统上连接有用于采集光信号并将其传送至快速光谱解析系统的光信号采集装置，所述的快速光谱解析系统与微控制器电连接，其特征在于，它还包括一个用于测量待测光源光度量或辐射度量的参考探头，该参考探头通过一个可将模拟信号转换为数字信号的信号转换电路与上述的微控制器电连接。本发明利用参考探头实现大跨度动态范围内光度量或辐射度量的线性测量，并且利用分光法的测量结果，将探头的测量结果校正为精确值。在电脑中存储有各种已知的标准值，以便于在校正时调用，对测量值进行校正，因此，能够有效地提高测量精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 快速 光谱仪 及其 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种快速光谱仪，包括一个用于测量待测光源光谱功率分布的快速光谱解析系统(1)，在快速光谱解析系统(1)上连接有用于采集光信号并将其传送至快速光谱解析系统(1)的光信号采集装置(2)，所述的快速光谱解析系统(1)与微控制器(3)电连接，其特征在于，它还包括一个用于测量待测光源光度量或辐射度量的参考探头(4)，该参考探头(4)通过一个信号转换电路(5)与上述的微控制器(3)电连接。
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