[发明专利]集成电光相位调制器电光相位调制系数测量方法

摘要

本发明公开一种集成电光相位调制器电光相位调制系数测量方法，利用赛格奈克光纤干涉仪作为测量装置，通过被测集成电光相位调制器对该光纤干涉仪进行相位调制；所用相位调制信号为方波信号，调制方波周期大于两倍赛格奈克光纤干涉仪的渡越时间；先将调制方波的幅度从零值开始，按照固定电压步长线性增加，对于每个方波幅度，光纤干涉仪的输出为也为有高低电平的方波信号，由采样电路采样得到输出高低电平信号的数值，计算其电平差，当此电平差达到最大值时对应的调制方波的幅度记为V_π/2；再将幅度调制方波的幅度固定为V_π/2/2对光纤干涉仪进行相位调制，通过采样电路采样此时输出方波信号的高低电平大小，按照公式计算得到电光相位调制系数数值。

主权项

1、集成电光相位调制器电光相位调制系数测量方法，其特征在于该方法的步骤如下：(1)构建赛格奈克光纤干涉仪，将被测量的集成电光相位调制器作为光纤干涉仪中的相位调制器，对系统进行相位调制；(2)在被测量的集成电光相位调制器的电极上加载周期方波信号，对光纤干涉仪进行相位调制，调制方波的周期大于赛格奈克干光纤涉仪渡越时间的两倍；(3)赛格奈克光纤干涉仪在(2)步骤中方波调制信号下输出方波信号，通过采样电路采样该输出方波信号的高低电平的大小，相减得到输出方波电平差；(4)重复(2)、(3)步骤，调制方波幅度从零开始，按照一定步长增加，通过采样电路采样得到对应于每一调制方波幅度调制下输出信号高低电平，计算得到相应电平差，找出该电平差值最小时对应的调制方波幅度，记为Vπ/2；(5)固定调制方波电压为Vπ/2/2对赛格奈克光纤干涉仪进行调制，采样此时系统的输出信号的高低电平数值，计算得到其电光相位调制系数值；通过改善输出信号测量的准确度和精度改进电光相位系数的测量精度和准确度。