[发明专利]大尺度结构面轮廓曲线粗糙度系数测量方法无效
| 申请号： | 200710068410.X | 申请日： | 2007-04-30 |
| 公开（公告）号： | CN101050958A | 公开（公告）日： | 2007-10-10 |
| 发明（设计）人： | 杜时贵;杨云芳;王晓翠;罗战友;姜健 | 申请（专利权）人： | 浙江建设职业技术学院 |
| 主分类号： | G01B21/30 | 分类号： | G01B21/30 |
| 代理公司： | 杭州天正专利事务所有限公司 | 代理人： | 黄美娟;王兵 |
| 地址： | 311231*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明涉及大尺度结构面轮廓曲线粗糙度系数测量方法，该方法确定大尺度结构面轮廓曲线粗糙度系数测量基准点，实现不同取样长度轮廓曲线粗糙度系数有效测量，提供一种合理进行大尺度结构面轮廓曲线粗糙度系数测量基准点确定，并实施不同取样长度结构面粗糙度系数有效测量的方法。 | ||
| 搜索关键词： | 尺度 结构 轮廓 曲线 粗糙 系数 测量方法 | ||
【主权项】：
1、一种大尺度结构面轮廓曲线粗糙度系数测量方法，包含以下顺序步骤：(1)在大尺度结构面轮廓曲线上，选定左端起点为测量基准点，按同一规则进行不同取样长度的结构面粗糙度系数测量取样，取样长度间隔为10cm；(2)在大尺度结构面轮廓曲线上，选定右端起点为测量基准点，按同一规则进行不同取样长度的结构面粗糙度系数测量取样，取样长度间隔为10cm；(3)在大尺度结构面轮廓曲线上，选定轮廓曲线中点为测量基准点，按同一规则进行不同取样长度的结构面粗糙度系数测量取样，取样长度间隔为10cm；(4)分别对(1)、(2)、(3)三个基准点各取样长度的结构面粗糙度系数测量结果进行测量有效性判别，即当JRC10＞JRC20＞JRC30，且JRC20＞JRC40，JRC30＞JRC50时，测量有效；否则测量无效；(5)分别对(1)、(2)、(3)三个基准点中测量有效的各取样长度的结构面粗糙度系数测量结果进行统计，取其平均值为各取样长度的结构面粗糙度系数值，进行大尺度结构面粗糙度系数尺寸效应分析。
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