[发明专利]基于多模波导中光场横向模式的干涉测量仪无效

专利信息
申请号: 200710069330.6 申请日: 2007-06-15
公开(公告)号: CN101071057A 公开(公告)日: 2007-11-14
发明(设计)人: 符建;王冬云 申请(专利权)人: 浙江大学
主分类号: G01B9/02 分类号: G01B9/02
代理公司: 杭州求是专利事务所有限公司 代理人: 张法高
地址: 310027*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种基于多模波导中光场横向模式的干涉测量仪,它包括相连接的光源组件、模式交换组件、传感组件、相关测量组件,模式交换组件具有多个多模波导方向耦合器,传感组件具有多个多模波导相位调制器,相关测量组件具有多个相连接的Y型分支器、光探测器、差分器,多个差分器与相关器相连接。本发明利用经典场实现多粒子量子纠缠态经典模拟的方法,这种经典模拟产生了类似于量子纠缠的非局域性质,本发明能够达到相位测量精度与N-1成正比,与量子纠缠方案一样达到测量精度的海森堡极限。更为重要的是,本发明所公开的方案,在引力波探测、微纳米位移测量、光纤陀螺和光纤声纳探测等领域具有重要的应用前景。
搜索关键词: 基于 波导 中光场 横向 模式 干涉 测量仪
【主权项】:
1.一种基于多模波导中光场横向模式的干涉测量仪,其特征在于包括相连接的光源组件(1)、模式交换组件(2)、传感组件(3)、相关测量组件(4),模式交换组件(2)具有多个多模波导方向耦合器(5),传感组件(3)具有多个多模波导相位调制器(6),相关测量组件(4)具有多个相连接的Y型分支器(7)、光探测器(8)、差分器(9),多个差分器(9)与相关器(10)相连接。
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