[发明专利]适用于多扫描链设计芯核的SOC测试数据的压缩方法

摘要

适用于多扫描链设计芯核的SOC测试数据的压缩方法，它涉及到SOC测试技术领域。它是为解决现有测试方法在对多扫描链设计芯核进行测试时，测试数据量过大，存在非模型故障的覆盖率不高且解码器的硬件代价过大而提出的。它的步骤一、将测试集T_D按照多链形式排列；步骤二、用近似团划分算法分组；步骤三、将各组按降序排序；步骤四、设定字典条目数量E；步骤五、“0+索引编码”、“1+测试片段”表示各组测试片段，得到压缩后的测试集T_E。本发明能直接用芯核厂商提供的测试数据，在不关心电路内部结构、不需要进行故障仿真和测试生成的条件下对多扫描链设计芯核进行测试数据压缩，压缩后的测试集仍然具有较高的故障覆盖率，且解码器硬件规模较小。

主权项

1、适用于多扫描链设计芯核的SOC测试数据的压缩方法，其特征在于它的测试数据压缩方法步骤为：步骤一、根据芯核内部扫描链数量将测试集TD按照多扫描链形式排列，即用测试片段的形式表示测试向量集合；步骤二、采用基于最大度顶点的近似团划分算法(MDCP)，根据测试片段的相容性将测试片段分组，使得同一组内的所有测试向量可以用同一个测试片段表示，每一组用$G_i={\{s}_{i1},s_{i2},\mathrm{L\; L},s_{{\mathrm{in}}_i}\}$ 表示，共分为k组，1≤i≤k，其中sij，表示第i组内的第j个测试片段，第i组包含ni个测试片段，i，j，k均为整数；步骤三、根据每一组内的测试片段数目ni将各组按降序排序；步骤四、根据解压电路的硬件容量设定字典条目数量E，对于排序后的前E组测试片段，为每组确定一个字典索引和字典条目，完成字典的创建；步骤五、对于排序后的前E组测试片段，每个片段用“0+索引编码”表示，对于后K-E组测试片段，每个片段用“1+测试片段”表示，而得到压缩后的测试集TE。