[发明专利]集成电路开路/短路的测试连接方法及装置有效

专利信息
申请号: 200710073233.4 申请日: 2007-02-09
公开(公告)号: CN101231322A 公开(公告)日: 2008-07-30
发明(设计)人: 段超毅;王国华;陶杉 申请(专利权)人: 段超毅;王国华;陶杉
主分类号: G01R31/02 分类号: G01R31/02;G01R31/28
代理公司: 深圳市睿智专利事务所 代理人: 陈鸿荫
地址: 518101广东省深*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及集成电路开路/短路的测试连接方法和装置,本发明方法包括以下步骤:设计一块双面的印刷电路板(1)或者绝缘板(6),该印刷电路板(1)焊盘的上下两面各导电点的脚距规格或者绝缘板(6)上的各导电端子之间的脚距规格与被测集成电路(8)的各导电点之间的脚距规格相同;将所述印刷电路板(1)下面焊盘的各导电点或者绝缘板(6)的导电端子(7)分别借助导线(2)与插座/插头(3)电连接;所述插座/插头(3)与所述开路/短路测试机(4)接插。本发明的技术效果在于:印刷电路板或绝缘板只须设计一层两面,没有内部布线,大大减少了设计费用和设计时间;没有内部布线,PCB板的面积也减到原来的四分之一左右,材料成本也大大降低。
搜索关键词: 集成电路 开路 短路 测试 连接 方法 装置
【主权项】:
1.一种集成电路开路/短路的测试连接方法,其特征在于:包括以下步骤,①设计一块双面印刷电路板(1),该印刷电路板(1)焊盘的上下两面各相应的导电点均分别互相导通,各导电点之间的脚距规格与被测集成电路(8)的各导电点之间的脚距规格相同;②使所述印刷电路板(1)上面焊盘的各导电点与被测集成电路(8)的各导电点分别电接触;③将所述印刷电路板(1)下面焊盘的各导电点分别借助导线(2)与插座/插头(3)电连接;④将所述插座/插头(3)与所述开路/短路测试机(4)接插。
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