[发明专利]一种透视快速响应矩阵二维码图案校正的方法及系统有效
申请号: | 200710075036.6 | 申请日: | 2007-06-14 |
公开(公告)号: | CN101093544A | 公开(公告)日: | 2007-12-26 |
发明(设计)人: | 尚国强 | 申请(专利权)人: | 中兴通讯股份有限公司 |
主分类号: | G06K9/18 | 分类号: | G06K9/18 |
代理公司: | 深圳市永杰专利商标事务所 | 代理人: | 曹建军 |
地址: | 518057广东省深圳市南山*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了一种透视快速响应矩阵二维码图案校正的方法及系统,所述方法包括以下步骤:a.获取透视快速响应矩阵二维码图案;b.根据Sklansky算法求取快速响应矩阵二维码图案的凸包围盒,在包围盒的顶点中寻找图像坐标下的四个顶点;采用奇异值分解法来估计透视变换参数;c.根据得到的透视变换参数,对原图像进行重新采样,得到校正的快速响应矩阵二维码图案。本发明通过采用Sklansky算法,准确得到QR码图案的四个顶点的图像坐标,然后采用求解线性方程的方法来估计透视矩阵的参数,达到校正图像,正确解码的目的,解决了透视QR码图案解码困难的问题。 | ||
搜索关键词: | 一种 透视 快速 响应 矩阵 二维码 图案 校正 方法 系统 | ||
【主权项】:
1、一种透视快速响应矩阵二维码图案校正的方法,其特征在于,包括以下步骤:a:获取透视快速响应矩阵二维码图案;b:根据Sklansky算法求取快速响应矩阵二维码图案的凸包围盒,在包围盒的顶点中寻找图像坐标下的四个顶点;采用奇异值分解法来估计透视变换参数;c:根据得到的透视变换参数,对原图像进行重新采样,得到校正的快速响应矩阵二维码图案。
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