[发明专利]翡翠透光度检测方法及其装置有效
| 申请号： | 200710075525.1 | 申请日： | 2007-08-03 |
| 公开（公告）号： | CN101122568A | 公开（公告）日： | 2008-02-13 |
| 发明（设计）人： | 曾楠;何永红;马辉 | 申请（专利权）人： | 清华大学深圳研究生院 |
| 主分类号： | G01N21/87 | 分类号： | G01N21/87;G01N21/59 |
| 代理公司： | 深圳创友专利商标代理有限公司 | 代理人： | 邢涛 |
| 地址： | 518055广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了翡翠透光度检测方法及其装置，涉及翡翠质量检测技术领域。所述装置包括：光源组件、分光器、光电探测器、信号处理分析器、纵向扫描光程模块以及横向扫描样品检测模块。光源组件发出的光分为检测光束和参考光束后，分别进入横向扫描样品检测模块和纵向扫描光程模块；经纵向扫描光程模块的反射光及横向扫描样品检测模块的反射光发生干涉；采集干涉信号，将其转化为相对应的电信号，并将电信号传输至信号处理分析器；得到待测翡翠检测部位二维内部结构光学层析图像和平均散射光强随入射深度的变化数据，直观判别翡翠样品的透光度。本发明可以显示翡翠透明度的分布变化规律，且不受翡翠样品厚度和是否镶嵌限制。 | ||
| 搜索关键词： | 翡翠 透光 检测 方法 及其 装置 | ||
【主权项】：
1.翡翠透光度检测方法，包括以下步骤：a.将光源发出的光通过分光器件分为检测光束和参考光束，分别进入固定有待测翡翠的横向扫描样品检测模块和产生光程变化且可反射光的纵向扫描光程模块；b.调节横向扫描样品检测模块中样品在固定台上的位置，使得经纵向扫描光程模块的反射光及横向扫描样品检测模块从待测翡翠处的反射光发生干涉；c.确定待测翡翠表面的检测部位，采集横向扫描过程中得到的纵向扫描干涉信号，将其转化为相对应的电信号，并将电信号传输至信号处理分析器；d.得到待测翡翠检测部位二维内部结构光学层析图像和平均散射光强随入射深度的变化数据，直观判别翡翠样品的透光度。
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