[发明专利]一种校正物理紫外光强测量仪的方法有效
| 申请号： | 200710076479.7 | 申请日： | 2007-08-16 |
| 公开（公告）号： | CN101368847A | 公开（公告）日： | 2009-02-18 |
| 发明（设计）人： | 陈仁灼;何唯平 | 申请（专利权）人： | 深圳市海川实业股份有限公司;深圳海川环境科技有限公司;上海启鹏化工有限公司;河源海川科技有限公司 |
| 主分类号： | G01J1/48 | 分类号： | G01J1/48;G01J1/52 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518040广东省深圳市福田区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种校正物理紫外光强测量仪的方法，其步骤为：先通过紫外线对碘化物和碘酸盐的混合溶液的光学作用形成I3－，测量出I3－的浓度；再通过平行光测试仪和至少三次不同的单波长为254nm的紫外光强度实验，用回归分析的方法得出校正曲线或校正方程的方法来校正物理光强测量仪。通过碘化物－碘酸盐光化学紫外强度测定法不定期校正物理紫外光强测定仪作为可靠、经济、简单易行的方法，而且结果准确、重复性高，可供有关研究单位，紫外灯生产企业、质检部门测量254nm紫外光的强度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 校正 物理 紫外光 测量仪 方法 | ||
【主权项】：
1.一种校正物理紫外光强测量仪的方法，其步骤为：先通过紫外线对碘化物和碘酸盐的混合溶液的光学作用形成I3 -，测量出I3 - 的浓度；再通过平行光测试仪和至少三次不同的单波长为254nm的紫外光强度实验，用回归分析的方法得出校正曲线或校正方程的方法来校正物理光强测量仪。
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