[发明专利]高频微波印制板相对介电常数εr测试方法无效

专利信息
申请号: 200710079666.0 申请日: 2007-03-05
公开(公告)号: CN101013146A 公开(公告)日: 2007-08-08
发明(设计)人: 阳泽彬 申请(专利权)人: 徐缓;阳泽彬
主分类号: G01R27/26 分类号: G01R27/26
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518067广东省深圳市南*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 一种高频微波印制板相对介电常数εr测试方法,主要特点在于:所述的测试方法的测试步骤如下:(一)测试高频微波印制板的下列参数:(1)调节参数测试仪的工作频率为10KHz,测试高频微波印制板的电容C(PF),(2)测出高频微波印制板的面积A(cm2),(3)测出高频微波印制板的介质厚度d(cm),(4)测出高频微波印制板边沿的周长l(cm);(二)计算高频微波印制板的相对介电常数εr:将步骤(一)中的(1)、(2)、(3)和(4)步骤所测量的电容C(PF)、面积A(cm2)、介质厚度d(cm)和边沿的周长l(cm)代入:式中,计算出高频微波印制板相对介电常数εr
搜索关键词: 高频 微波 印制板 相对 介电常数 sub 测试 方法
【主权项】:
1.一种高频微波印制板相对介电常数εr测试方法,其特征在于:所述的介电常数εr测试方法的测试步骤如下:(一)测试高频微波印制板的下列参数:(1).调节参数测试仪的工作频率为10KHz,测试高频微波印制板的电容C(PF),(2).测出高频微波印制板的面积A(cm2),(3).测出高频微波印制板的介质厚度d(cm),(4).测出高频微波印制板边沿的周长l(cm);(二)计算高频微波印制板的相对介电常数εr:将步骤(一)中的(1)、(2)、(3)和(4)步骤所测量的电容C(PF)、面积A(cm2)、介质厚度d(cm)和边沿的周长l(cm)代入: ϵ r = C 0.0885 A / d + 0.04425 l [ ln ( 8 l / d ) - 1 ] 式中,计算出高频微波印制板相对介电常数εr。
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